Zusammenfassung
Die rechnerische Untersuchung eines elektronenoptischen Systems erfordert in der Regel so genaue Werte der Feldverteilung, wie sie nur mit modernen elektronischen Digitalmaschinen erhalten werden können. Die Erfahrung zeigt aber, daß die Lösung der Potentialgleichung nach dem Maschenverfahren mit programmgesteuerten universalen elektronischen Maschinen recht zeitraubend (Programmieren) und relativ kostspielig (lange Lösungszeit) ist. Müssen laufend viele Felder berechnet werden, so lohnt es sich, eine relativ billige Spezialanlage zur Lösung der Potentialgleichung zu bauen. Sie muß sich durch geringen Arbeitsaufwand bei der Einführung der Ausgangsdaten und durch große Genauigkeit auszeichnen und so die Vorteile eines Widerstandsnetzes und einer digitalen Rechenmaschine in sich vereinigen. Dies wird erzielt durch Serienschaltung eines Netzgerätes, das die Potentialgleichung in erster Näherung löst, mit einer einfachen, spezialisierten Digitalmaschine, die den Approximationsfehler jener Lösung reduziert.
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Siehe diesen Band, S. 263
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Der-Schwarz, G.W. et al. (1960). Linsen und Ablenksysteme. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0_5
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