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Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique

Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil

  • Editors
  • W. Bargmann
  • G. Möllenstedt
  • H. Niehrs
  • D. Peters
  • E. Ruska
  • C. Wolpers

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages II-XIX
  2. Eröffnungs-Ansprache

    1. Ernst Ruska
      Pages 1-1
  3. Opening remarks

    1. V. E. Cosslett
      Pages 2-3
  4. Festvortrag

    1. M. von Laue
      Pages 4-8
  5. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren

    1. Y. Sakaki, S. Maruse, M. Drechsler, V. E. Cosslett, W. C. Nixon, J. K. Trolan et al.
      Pages 9-44
    2. G. W. Der-Schwarz, W. Weitsch, Nozomu Morito, Bunya Tadano, Shinjiro Katagiri, Hirokazu Kimura et al.
      Pages 45-74
    3. W. D. Riecke, Nobuji Sasaki, Ryuzo Ueda, Noboru Arai, K. Hiziya, H. Hashimoto et al.
      Pages 74-103
    4. V. G. Nirikoff, J. M. Kuschnier, M. M. Butsloff, G. A. Bordowsky, R. Broser-Warminsky, E. Ruska et al.
      Pages 103-116
    5. H. Frieser, E. Klein, E. Zeitler, Friedrich Lenz, A. M. D’Ans, E.-G. Bergansky et al.
      Pages 116-145
    6. Th. F. Anderson, H. Grothe, E. Knobling, G. Schimmel, K. Bogen, J.-G. Helmcke et al.
      Pages 146-154
    7. R. A. Haefer, K.-H. Mirgel, H. Everding, A. Engel, O. Wolff
      Pages 154-165
    8. K. Kobayashi, E. Suito, S. Shimadzu, B. Tadano, S. Katagiri, K. Ichige et al.
      Pages 165-194
    9. J. S. Halliday, R. C. Newman, Charles Fert, Ferdinand Pradal, Robert Saporte, René Simon et al.
      Pages 195-230
    10. M. Keller, R. Buhl, Charles Fert, Jean Faget
      Pages 230-239
    11. V. E. Cosslett, W. C. Nixon, I. I. Bessen, Ong Sing Poen, J. B. Le Poole, Günther Langner
      Pages 239-263
    12. T. Mulvey, P. Duncumb, T. E. Everhart, K. C. A. Smith, O. C. Wells, C. W. Oatley et al.
      Pages 263-276
    13. K. H. Steigerwald, F. Schleich
      Pages 276-280
  6. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild

    1. L. Marton, L. B. Leder, C. Marton, H. Mendlowitz, J. A. Simpson, J. A. Suddeth et al.
      Pages 281-319
    2. J. W. Menter, H. Hashimoto, T. Naiki, M. Mannami, Shiro Ogawa, Denjiro Watanabe et al.
      Pages 320-352
    3. G. A. Bassett, J. W. Menter, D. W. Pashley, Eiji Suito, Natsu Uyeda, Joachim Stabenow et al.
      Pages 353-374
  7. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik

    1. W. C. T. Dowell, M. S. C. Birbeck, E. Sugata, H. Yokoya, K. Kitakaze
      Pages 375-381
    2. E. Kirste, H. Mahl, S. Pregermain, C. Guillemot, N. Takahashi, K. Ashinuma et al.
      Pages 381-395
    3. C. J. Calbick, S. Steinemann, J. J. Trillat, M. Gribi, L. Wegmann, H. Bethge et al.
      Pages 396-422
    4. C. J. Calbick, A. C. van Dorsten, F. Grasenick, O. Reiter, S. Gessner, H. Horn et al.
      Pages 422-446
  8. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie)

    1. K. Meyerhoff, J. A. Gard, H. F. W. Taylor, L. W. Staples, S. N. Chatterjee, M. Seal et al.
      Pages 447-461
    2. E. Brüche, K.-J. Schulze, John H. L. Watson, Michael W. Freeman, J. J. de Jong, J. M. G. Smeets et al.
      Pages 462-487
    3. T. Hibi, K. Yada, J. J. Comer, Antoni Feltynowski, Ludwik Górski, G. V. Spivak et al.
      Pages 487-506
    4. W. Wilkens, C. Sella, P. Conjeaud, J. J. Trillat, G. A. Bassett, Ludwig Reimer et al.
      Pages 506-526
    5. P. B. Hirsch, A. Howie, M. J. Whelan, P. G. Partridge, H. Tomlinson, W. Bollmann et al.
      Pages 527-574
    6. J. Nutting, R. M. Fisher, A. Saulnier, M. Croutzeilles, G. Thomas, K. S. Grewal et al.
      Pages 574-686
    7. J. Sikorski, W. S. Simpson, H. J. Woods, P. Kassenbeck, Mary L. Rollins, Anna T. Moore et al.
      Pages 686-728
    8. H. Grothe, G. Schimmel, Klara Árkosi, G. Kämpf, I. M. Dawson, A. I. McGaffney et al.
      Pages 728-754
    9. H.-W. Schlipköter, H. Steiger, H.-F. Esser, E. G. Beck, J. Cartwright, G. Nagelschmidt et al.
      Pages 754-768
    10. E. Wiesenberger, J. Blaha, Glawitsch, F. Grasenick
      Pages 769-779
  9. Feldemissionsmikroskopie

    1. E. K. Caspary, E. Krautz, G. Pankow, Ferdinand Stangler, A. Komar, V. Schrednik et al.
      Pages 780-801
    2. W. M. H. Sachtler, G. J. H. Dorgelo, R. J. Hill, P. W. M. Jacobs, G. W. Lodge, E. Hess et al.
      Pages 801-819
    3. Erwin W. Müller, M. Drechsler, P. Wolf
      Pages 820-848
  10. Back Matter
    Pages 848-860

About this book

Introduction

Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer.

Keywords

Atom Beugung Elektron Elektronen Elektronenmikroskopie Felder Kristallographie Kristallstruktur Mikroskopie Molekül Reflexion Reibung Röntgenstrahlen Strahlung Wellen

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0
  • Copyright Information Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1960
  • Publisher Name Springer, Berlin, Heidelberg
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-642-49481-9
  • Online ISBN 978-3-642-49765-0
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