Zusammenfassung
Alle massenspektrometrischen Methoden der Strukturaufklärung basieren auf einem komplizierten Ionisierungs- und Fragmentierungsprozeß, dessen Produkte einer theoretischen (“ab initio”-) Vorausberechnung nicht zugänglich sind. Die SIMS macht hiervon keine Ausnahme. Bei ihrer Anwendung ist man daher, wie auch in den anderen Fällen, auf Auswertung und Vergleich mit empirischen Daten angewiesen. Die Ergebnisse der vorliegenden Arbeit belegen, daß es möglich und vorteilhaft ist, das Verfahren der Sekundärionisierung in modernen Routinemassenspektrometern mit anderen Ionisierungsmethoden zu kombinieren. Die Massenspektrometrie wird hierdurch insbesondere auf die Untersuchung von organischen Salzen, Naturstoffen und anderen thermisch labilen, nicht verdampfbaren Verbindungen anwendbar, ohne daß diese Substanzen durch Abbau, Derivatisierung, oder dergleichen aufbereitet werden müssen. Aufgrund der Ionisierungsbedingungen müssen Sekundärionenmassenspektren innerhalb möglichst kurzer Zeiten aufgenommen werden, was einen schnellen Probenwechsel ermöglicht und die Verschmutzung des Massenspektrometers durch Probenmaterial auf ein Mindestmaß beschränkt. Apparativ ist die Sekundärionisierung kaum aufwendiger als die chemische Ionisation; sie ist jedoch leichter zu variieren, da sich die Energie und die Stromdichte, aber auch die Art der Primärionen und des Probenträgers (“target”) auf das Ausmaß der Fragmentierung auswirken.
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von Bünau, G., Klöppel, KD. (1981). Schlußbemerkung. In: Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse. Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen, vol 3049. VS Verlag für Sozialwissenschaften, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-87528-0_8
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Publisher Name: VS Verlag für Sozialwissenschaften, Wiesbaden
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