Zusammenfassung
Abb. 3 zeigt die Sekundärionenmassenspektren von polykristallinen Proben der Metalle Kupfer, Silber und Gold. Hierzu wurde jeweils ein Ar+-Ionenstrahl von 8 keV und etwa 10−5 A/cm2 verwendet (entsprechend 0.6 Ar+-Ionen sec−1/nm2). Bezeichnet man die Zahl der pro Primärion emittierten positiven Ionen als Sekundärionenausbeute, so erhält man trotz Gegenwart von Sauerstoff (10−3 Pa) nur Ausbeuten von 2·10−2 (für Kupfer), 2·10−3 (für Silber) und 5·10−5 (für Gold) — bezogen auf Chrom, dessen absolute Sekundärionenausbeute zu 1.2 bestimmt worden ist [6].
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© 1981 Westdeutscher Verlag GmbH, Opladen
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von Bünau, G., Klöppel, KD. (1981). Sekundärionenausbeute. In: Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse. Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen, vol 3049. VS Verlag für Sozialwissenschaften, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-322-87528-0_4
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-87528-0_4
Publisher Name: VS Verlag für Sozialwissenschaften, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-531-03049-4
Online ISBN: 978-3-322-87528-0
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