Zusammenfassung
Für den Test ist es wichtig zu wissen, welche Fehler in einer Schaltung tatsächlich auftreten können und wie häufig die einzelnen Fehler sind, denn der Test soll gerade die häufigsten Fehler zuverlässig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch Störungen im Fertigungsprozeß nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfläche erzeugt werden. Solche Abweichungen werden Defekte genannt. Die von ihnen verursachten Änderungen in der Transistor-Netzliste und im Verhalten der Schaltung werden als Fehler bezeichnet. Jedem Fehler liegt mindestens ein Defekt zugrunde. Aber nicht jeder Defekt verursacht einen Fehler, denn Defekte in Bereichen, wo keine Layoutobjekte der Schaltung liegen, sind bedeutungslos.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig
About this chapter
Cite this chapter
Ströle, A.P. (1998). Defekte und Fehler. In: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen. TEUBNER-TEXTER zur Informatik, vol 27. Vieweg+Teubner Verlag. https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2_2
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2_2
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag
Print ISBN: 978-3-8154-2314-1
Online ISBN: 978-3-322-85164-2
eBook Packages: Springer Book Archive