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Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

  • Albrecht P. Ströle

Part of the TEUBNER-TEXTER zur Informatik book series (TTZI, volume 27)

Table of contents

  1. Front Matter
    Pages 1-10
  2. Albrecht P. Ströle
    Pages 11-16
  3. Albrecht P. Ströle
    Pages 17-43
  4. Albrecht P. Ströle
    Pages 44-80
  5. Albrecht P. Ströle
    Pages 184-277
  6. Albrecht P. Ströle
    Pages 278-283
  7. Albrecht P. Ströle
    Pages 284-310
  8. Back Matter
    Pages 311-324

About this book

Introduction

Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.

Keywords

Einheit Entwurf Fehler Fertigung Forschung Halbleiterfertigung Hardware-Strukturen Methoden Mustererzeugung Planung Schieberegister Testprobleme Teststrategien Testverfahren Verfahren

Authors and affiliations

  • Albrecht P. Ströle
    • 1
  1. 1.Universität KarlsruheDeutschland

Bibliographic information

  • DOI https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2
  • Copyright Information Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, Wiesbaden 1998
  • Publisher Name Vieweg+Teubner Verlag
  • eBook Packages Springer Book Archive
  • Print ISBN 978-3-8154-2314-1
  • Online ISBN 978-3-322-85164-2
  • Series Print ISSN 1615-4584
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