1. Automation und Meßtechnik—Mikro- und Nanotechnologie

   • P. Herbert Osanna

   Vorwort Pages: 177 - 178

2. Prozeßlenkung bei unsicheren Meßergebnissen

   • A. Weckenmann
   • U. Gebauer
   • M. Rinnagl

   Begutachtete Originalarbeiten Pages: 179 - 184

3. Micro rate sensors in CMOS technology

   • D. Seter
   • S. Kaldor

   Reviewed Original Papers Pages: 185 - 191

4. Computer-based compensation of positioning errors in roundness measurements of small precise holes

   • S. Zebrowska-Łucyk

   Reviewed Original Papers Pages: 192 - 197

5. Reference methods and their wider applicability to measurements of roundness profiles

   • S. Adamczak
   • D. Janecki

   Reviewed Original Papers Pages: 197 - 202

6. Correction of eccentricity of metal bonded diamond grinding wheels

   • H. T. Hingle

   Reviewed Original Papers Pages: 203 - 206

7. Prüfmittelüberwachung und-verwaltung im Qualitätsmanagement — leistungsfähig und flexibel durch Rechnereinsatz

   • N. M. Durakbasa
   • P. H. Osanna

   Begutachtete Originalarbeiten Pages: 207 - 212

8. Nanometrology for industrial applications

   • D. Prostrednik
   • P. H. Osanna

   Reviewed Original Papers Pages: 213 - 217

9. Dissertationen

   Announcement Pages: 218 - 218

10. Rundschau

    ReviewPaper Pages: 218 - 224

11. Vergabe von GIT-, ÖGE- und ÖGMA-Förderpreisen des ÖVE

    Verbandsnachrichten Pages: 224 - 224

12. Persönliches

    Announcement Pages: 225 - 225

13. Fritz Nyvelt

    • Willi Gmeinhart

    Nachruf Pages: 225 - 226

14. Buchbesprechungen

    • Klaus Fröhlich
    • Gerfried Zeichen

    BookReview Pages: 226 - 226

15. Buchanzeigen

    BookReview Pages: 226 - 227

16. Mitteilungen

    Report Pages: 227 - 228