Depth profile analyses by GDOS on stainless steel surfaces after exposure to liquid lithium I. SchreinlechnerP. Scholze Original Papers Pages: 798 - 800
Rutherford backscattering for measuring corrosion layers on glasses for long-term storage of radioactive waste Hj. Matzke Original Papers Pages: 801 - 808
Anwenderbezogene ESCA-Oberflächenuntersuchungen in der industriellen Technik J. EbberinkR. EhrmannG. Menken Originalarbeiten Pages: 809 - 811
Korrosion von rostfreien Stählen in Chloridlösungen. Eine XPS-Untersuchung der Passivfilme P. BrüeschA. AtrensH. Neff Originalarbeiten Pages: 812 - 821
RSV Spektrometer Typ ANALYMAT 2500 mit Glimmentladungslampe und Sord-Computer-System für die Oberflächenanalyse und die quantitative Analyse H. Ritzl Originalarbeiten Pages: 822 - 825
Scanning-Auger-Untersuchungen an Hartmetall-Bruchflächen H. GoretzkiM. WeissE. Kny Originalarbeiten Pages: 826 - 830
Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMS P. WilhartitzM. GrasserbauerB. Lux Original Papers Pages: 831 - 836
FTIR-ATR-spectroscopic in situ analysis of the protein adsorption on charged polymer surfaces R. KellnerG. Götzinger Original Papers Pages: 837 - 838
FTIR-ATR-spectroscopic analysis of depth distribution of crown ethers on PVC-membrane surfaces R. KellnerG. GötzingerL. Polos Original Papers Pages: 839 - 840
Angle resolved ESCA analysis of plasma modified polysterene J. F. EvansJ. H. GibsonH. Goretzki Original Papers Pages: 841 - 844
Applications of the small spot ESCA system SSX 100 in surface analysis S. M. DaiserJ. L. MaulM. A. Kelly Original Papers Pages: 845 - 847
Radiochemische Korrosionsuntersuchungen an Ventilmetallen und Edelstahl A. BestanpouriR. DrosteG. Marx Originalarbeiten Pages: 848 - 848
Bedeutung und Problematik von Metall-Halbleiter-Kontakten H. Wagner Originalarbeiten Pages: 849 - 850
Bestimmung von Implantationsprofilen für As und P in Si mittels SNMS niedriger Energie P. BeckmannH. OechsnerH. Paulus Originalarbeiten Pages: 851 - 852
Einsatz von Oberflächenmethoden zur Charakterisierung von Si-Wafers nach unterschiedlicher Vorbehandlung M. Grundner Originalarbeiten Pages: 853 - 854
Transient SIMS depth-profiles at the interface Si3N4/GaAs U. TraxlmayrG. StingederM. Grasserbauer Original Papers Pages: 855 - 860
Tiefenprofilanalysen und TEM-Querschnitte von Tantalsilicid-Polysilicium-Doppelschichten R. v. CriegernT. HillmerI. Weitzel Originalarbeiten Pages: 861 - 866
Auger-Elektronen-Spektroskopie an Ge:III-V(110) Heteroübergängen L. KoendersH. GantW. Mönch Originalarbeiten Pages: 867 - 871
ESCA-Untersuchung der Oxidation von III-V-Verbindungshalbleitern Hans-Eckard SasseUlf König Originalarbeiten Pages: 872 - 876
Characterization of native and heterooxide layers on compound semiconductors by combined use of surface analysis methods U. KaiserP. SanderA. Benninghoven Original Papers Pages: 877 - 882