1. Depth profile analyses by GDOS on stainless steel surfaces after exposure to liquid lithium

   • I. Schreinlechner
   • P. Scholze

   Original Papers Pages: 798 - 800

2. Rutherford backscattering for measuring corrosion layers on glasses for long-term storage of radioactive waste

   • Hj. Matzke

   Original Papers Pages: 801 - 808

3. Anwenderbezogene ESCA-Oberflächenuntersuchungen in der industriellen Technik

   • J. Ebberink
   • R. Ehrmann
   • G. Menken

   Originalarbeiten Pages: 809 - 811

4. Korrosion von rostfreien Stählen in Chloridlösungen. Eine XPS-Untersuchung der Passivfilme

   • P. Brüesch
   • A. Atrens
   • H. Neff

   Originalarbeiten Pages: 812 - 821

5. RSV Spektrometer Typ ANALYMAT 2500 mit Glimmentladungslampe und Sord-Computer-System für die Oberflächenanalyse und die quantitative Analyse

   • H. Ritzl

   Originalarbeiten Pages: 822 - 825

6. Scanning-Auger-Untersuchungen an Hartmetall-Bruchflächen

   • H. Goretzki
   • M. Weiss
   • E. Kny

   Originalarbeiten Pages: 826 - 830

7. Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMS

   • P. Wilhartitz
   • M. Grasserbauer
   • B. Lux

   Original Papers Pages: 831 - 836

8. FTIR-ATR-spectroscopic in situ analysis of the protein adsorption on charged polymer surfaces

   • R. Kellner
   • G. Götzinger

   Original Papers Pages: 837 - 838

9. FTIR-ATR-spectroscopic analysis of depth distribution of crown ethers on PVC-membrane surfaces

   • R. Kellner
   • G. Götzinger
   • L. Polos

   Original Papers Pages: 839 - 840

10. Angle resolved ESCA analysis of plasma modified polysterene

    • J. F. Evans
    • J. H. Gibson
    • H. Goretzki

    Original Papers Pages: 841 - 844

11. Applications of the small spot ESCA system SSX 100 in surface analysis

    • S. M. Daiser
    • J. L. Maul
    • M. A. Kelly

    Original Papers Pages: 845 - 847

12. Radiochemische Korrosionsuntersuchungen an Ventilmetallen und Edelstahl

    • A. Bestanpouri
    • R. Droste
    • G. Marx

    Originalarbeiten Pages: 848 - 848

13. Bedeutung und Problematik von Metall-Halbleiter-Kontakten

    • H. Wagner

    Originalarbeiten Pages: 849 - 850

14. Bestimmung von Implantationsprofilen für As und P in Si mittels SNMS niedriger Energie

    • P. Beckmann
    • H. Oechsner
    • H. Paulus

    Originalarbeiten Pages: 851 - 852

15. Einsatz von Oberflächenmethoden zur Charakterisierung von Si-Wafers nach unterschiedlicher Vorbehandlung

    • M. Grundner

    Originalarbeiten Pages: 853 - 854

16. Transient SIMS depth-profiles at the interface Si₃N₄/GaAs

    • U. Traxlmayr
    • G. Stingeder
    • M. Grasserbauer

    Original Papers Pages: 855 - 860

17. Tiefenprofilanalysen und TEM-Querschnitte von Tantalsilicid-Polysilicium-Doppelschichten

    • R. v. Criegern
    • T. Hillmer
    • I. Weitzel

    Originalarbeiten Pages: 861 - 866

18. Auger-Elektronen-Spektroskopie an Ge:III-V(110) Heteroübergängen

    • L. Koenders
    • H. Gant
    • W. Mönch

    Originalarbeiten Pages: 867 - 871

19. ESCA-Untersuchung der Oxidation von III-V-Verbindungshalbleitern

    • Hans-Eckard Sasse
    • Ulf König

    Originalarbeiten Pages: 872 - 876

20. Characterization of native and heterooxide layers on compound semiconductors by combined use of surface analysis methods

    • U. Kaiser
    • P. Sander
    • A. Benninghoven

    Original Papers Pages: 877 - 882

21. Neue Geräte und Chemikalien

    Announcement Pages: A15 - A15