Dünnschicht- und Strukturanalyse mit Röntgen-, Elektronen- und Ionenstrahlen H. W. Werner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 209 - 209
Schwingungsspektroskopie an Oberflächen H. Ibach Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 209 - 210
Ion beam induced effects in thin-film analysis H. Oechsner Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 211 - 214
Quantitative Erfassung des Ionenstrahleinflusses beim Sputtering von Oxidschichten mit AES und XPS S. HofmannJ. M. Sanz Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 215 - 219
Festkörperanalysen mittels Nachionisation zerstäubter Neutralteilchen W. O. HoferJ. GiberJ. Schou Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 220 - 220
Laser-Lokal-Emissionsspektralanalyse an keramischen Werkstoffen R. SiechauK. BürgersH. Nickel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 221 - 225
Simultane Multielementoberflächenanalyse mit der Glimmentladung — ein Schnellverfahren für die Oberflächencharakterisierung M. KretschmerK.-H. KochD. Grunenberg Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 226 - 234
Emissionsspektrometrische Oberflächenanalyse mit Glimmentladungen. — Einige Betrachtungen zur quantitativen Analyse A. QuentmeierD. DemenyK. Laqua Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 235 - 235
Einige Anwendungsbeispiele zur quantifizierenden Auger-Analyse H. SchneiderC. BaumE. Nold Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 236 - 236
Beitrag zur quantitativen Bestimmung von Legierungsbestandteilen in Stahl mittels Auger-Elektronenspektroskopie H. Bubert Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 237 - 241
Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern K.-H. MüllerH. OechsnerT. Halden Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 242 - 243
Empfindlichkeits-Faktoren für quantitative ESCA, gemessen unter UHV-Bedingungen K. Berresheim Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 243 - 243
Grenzen der Ortsauflösung bei SIMS H. Liebl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 244 - 244
Biologische Mikrosondenanalyse mit LAMMA — Erste Versuche zur quantitativen Analyse Walter H. Schröder Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 244 - 245
Aufgaben und Probleme bei Korrosionsuntersuchungen an metallischen Werkstoffen für den Hochtemperaturreaktor-Primärkreislauf H. Schuster Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 246 - 252
X-ray diffraction and microprobe analysis of high-temperature corrosion layers on INCOLOY 800 H H. GrübmeierA. NaoumidisH. A. Schulze Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 253 - 257
Probleme und Ergebnisse von SIMS-Messungen an Stahloberflächen J. Dittmann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 258 - 258
Bestimmung der Sauerstoffsegregation an Vanadium-Oberflächen als Funktion der Temperatur durch SIMS J.-M. WelterH. N. Wachendorf Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 259 - 259
Analyse von chemisch behandelten Metalloberflächen durch ISS/SIMS Herbert Puderbach Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 260 - 264
AES-Untersuchungen zur Ionenbeschußunterstützten Oxidation von Niob H. W. EtzkornJ. WahrhusenH. Oechsner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 265 - 265
In situ-Untersuchungen von Metalloberflächen in Elektrolytlösungen H. NeugebauerG. NauerR. Kellner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 266 - 272
Stoffübertragung durch Diffusion in der Gasphasen-Grenzschicht J.-P. PfeiferW. J. Quadakkers Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 273 - 273
Analytical assistance in semiconductor and electronic material technology H. W. Werner Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 274 - 284
Surface analysis of glass in the electronics industry B. M. J. SmetsR. G. Gossink Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 285 - 288
Anwendung der Ionenstrahl- und Plasmaätztechnik in der elektronischen Feinstrukturierung und ihre analytische Problematik anhand praktischer Erfahrungen Konrad FischerDewey Frank BazarreGerhard Liebel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 289 - 292
Sensitivity limitations in the analysis of semiconductor devices with auger electron spectrometry (AES) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) R. v. CriegernTh. HillmerI. Weitzel Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 293 - 299
Chemical analysis of thin semiconducting films using scanning auger electron spectroscopy F. BirmansJ. HerionG. Scharl Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 300 - 300
Probleme bei der quantitativen Analyse dünner Schichten W. BonselsH. Carl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 301 - 303
Quantitative distribution analysis of dopant elements in silicon with SIMS for the improvement of process modelling G. StingederM. GrasserbauerR. Tielert Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 304 - 308
SIMS-Untersuchung der Qualität von pn-Übergängen in ionenimplantiertem und cw-laserausgeheiltem Silicium M. MaierD. BimbergF. Phillipp Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 309 - 309
Anwendungen der Oberflächenanalytik bei der Erforschung der heterogenen Katalyse H. P. Bonzel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 310 - 314
Decomposition of ethanol on Cu-ZnO and Pd-ZnO W. MokwaD. KohlG. Heiland Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 315 - 318
Enhanced raman scattering from small metallic particles and Metallic Films W. KrasserP. S. BechtholdU. Kettler Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 319 - 323
Mößbauerspektroskopische Phasenanalyse eisenhaltiger Oberflächenschichten W. MeiselP. Gütlich Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 324 - 325
Optische Massenspektrometrie kleinster Metallaggregate mittels 2-Photonen-Ionisation L. WösteJ. Weber Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 326 - 331
Analytische Fragestellungen bei der Erzeugung dünner Schichten K. Hartig Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 332 - 335
Präparation, Charakterisierung und Eigenschaften dünner Schichten, die als Forschungsmaterialien verwendet werden K. ReicheltK. -H. KlattH. Wenzl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 336 - 336
Determination of thickness and roughness of thin copper films by X-Ray diffraction measurements K. HäuplP. Wißmann Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 337 - 339
Quantitative surface analysis of coated hard metals with SIMS M. GrasserbauerG. StingederW. Wallgram Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 340 - 345
IIR- und SIMS-Tiefenprofilanalysen an dielektrischen Schichten und an Glasoberflächen mit einer modifizierten Ionenätzanlage im Druckbereich von 10−6mbar K. H. GüntherE. Hauser Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 346 - 346
Elektronenmikroskopische Strukturanalyse von Metalloberflächen nach Helium-Implantation W. Jäger Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 347 - 347
Auger-Elektronen-Spektroskopie an radioaktiven Materialien F. BaumgärtnerC. DachselR. Henkelmann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 348 - 348
Zur Analyse von Verwitterungsschichten an Steinartefakten Renate Bäsemann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 349 - 349
ESCA-Untersuchungen der Tiefenverteilung von Fluorid in den äußersten Schichten von Zahnschmelz H. UchtmannH. Duschner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 350 - 350
Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy Z. ZadgorskaE. BauerH. Nickel Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 351 - 355
Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy Z. ZadgorskaH. NickelG. Wolff Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 356 - 361