DĂŒnnschicht- und Strukturanalyse mit Röntgen-, Elektronen- und Ionenstrahlen H. W. Werner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 209 - 209
Schwingungsspektroskopie an OberflÀchen H. Ibach Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 209 - 210
Ion beam induced effects in thin-film analysis H. Oechsner Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 211 - 214
Quantitative Erfassung des Ionenstrahleinflusses beim Sputtering von Oxidschichten mit AES und XPS S. HofmannJ. M. Sanz Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 215 - 219
Festkörperanalysen mittels Nachionisation zerstÀubter Neutralteilchen W. O. HoferJ. GiberJ. Schou Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 220 - 220
Laser-Lokal-Emissionsspektralanalyse an keramischen Werkstoffen R. SiechauK. BĂŒrgersH. Nickel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 221 - 225
Simultane MultielementoberflĂ€chenanalyse mit der Glimmentladung â ein Schnellverfahren fĂŒr die OberflĂ€chencharakterisierung M. KretschmerK.-H. KochD. Grunenberg Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 226 - 234
Emissionsspektrometrische OberflĂ€chenanalyse mit Glimmentladungen. â Einige Betrachtungen zur quantitativen Analyse A. QuentmeierD. DemenyK. Laqua Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 235 - 235
Einige Anwendungsbeispiele zur quantifizierenden Auger-Analyse H. SchneiderC. BaumE. Nold Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 236 - 236
Beitrag zur quantitativen Bestimmung von Legierungsbestandteilen in Stahl mittels Auger-Elektronenspektroskopie H. Bubert Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 237 - 241
Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern K.-H. MĂŒllerH. OechsnerT. Halden Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 242 - 243
Empfindlichkeits-Faktoren fĂŒr quantitative ESCA, gemessen unter UHV-Bedingungen K. Berresheim Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 243 - 243
Grenzen der Ortsauflösung bei SIMS H. Liebl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 244 - 244
Biologische Mikrosondenanalyse mit LAMMA â Erste Versuche zur quantitativen Analyse Walter H. Schröder Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 244 - 245
Aufgaben und Probleme bei Korrosionsuntersuchungen an metallischen Werkstoffen fĂŒr den Hochtemperaturreaktor-PrimĂ€rkreislauf H. Schuster Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 246 - 252
X-ray diffraction and microprobe analysis of high-temperature corrosion layers on INCOLOY 800 H H. GrĂŒbmeierA. NaoumidisH. A. Schulze Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 253 - 257
Probleme und Ergebnisse von SIMS-Messungen an StahloberflÀchen J. Dittmann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 258 - 258
Bestimmung der Sauerstoffsegregation an Vanadium-OberflÀchen als Funktion der Temperatur durch SIMS J.-M. WelterH. N. Wachendorf Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 259 - 259
Analyse von chemisch behandelten MetalloberflÀchen durch ISS/SIMS Herbert Puderbach Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 260 - 264
AES-Untersuchungen zur IonenbeschuĂunterstĂŒtzten Oxidation von Niob H. W. EtzkornJ. WahrhusenH. Oechsner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 265 - 265
In situ-Untersuchungen von MetalloberflÀchen in Elektrolytlösungen H. NeugebauerG. NauerR. Kellner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 266 - 272
StoffĂŒbertragung durch Diffusion in der Gasphasen-Grenzschicht J.-P. PfeiferW. J. Quadakkers Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 273 - 273
Analytical assistance in semiconductor and electronic material technology H. W. Werner Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 274 - 284
Surface analysis of glass in the electronics industry B. M. J. SmetsR. G. Gossink Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 285 - 288
Anwendung der Ionenstrahl- und PlasmaÀtztechnik in der elektronischen Feinstrukturierung und ihre analytische Problematik anhand praktischer Erfahrungen Konrad FischerDewey Frank BazarreGerhard Liebel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 289 - 292
Sensitivity limitations in the analysis of semiconductor devices with auger electron spectrometry (AES) and secondary ion mass spectrometry (SIMS) R. v. CriegernTh. HillmerI. Weitzel Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 293 - 299
Chemical analysis of thin semiconducting films using scanning auger electron spectroscopy F. BirmansJ. HerionG. Scharl Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 300 - 300
Probleme bei der quantitativen Analyse dĂŒnner Schichten W. BonselsH. Carl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 301 - 303
Quantitative distribution analysis of dopant elements in silicon with SIMS for the improvement of process modelling G. StingederM. GrasserbauerR. Tielert Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 304 - 308
SIMS-Untersuchung der QualitĂ€t von pn-ĂbergĂ€ngen in ionenimplantiertem und cw-laserausgeheiltem Silicium M. MaierD. BimbergF. Phillipp Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 309 - 309
Anwendungen der OberflÀchenanalytik bei der Erforschung der heterogenen Katalyse H. P. Bonzel Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 310 - 314
Decomposition of ethanol on Cu-ZnO and Pd-ZnO W. MokwaD. KohlG. Heiland Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 315 - 318
Enhanced raman scattering from small metallic particles and Metallic Films W. KrasserP. S. BechtholdU. Kettler Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 319 - 323
MöĂbauerspektroskopische Phasenanalyse eisenhaltiger OberflĂ€chenschichten W. MeiselP. GĂŒtlich Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 324 - 325
Optische Massenspektrometrie kleinster Metallaggregate mittels 2-Photonen-Ionisation L. WösteJ. Weber Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 326 - 331
Analytische Fragestellungen bei der Erzeugung dĂŒnner Schichten K. Hartig Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 332 - 335
PrĂ€paration, Charakterisierung und Eigenschaften dĂŒnner Schichten, die als Forschungsmaterialien verwendet werden K. ReicheltK. -H. KlattH. Wenzl Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 336 - 336
Determination of thickness and roughness of thin copper films by X-Ray diffraction measurements K. HĂ€uplP. WiĂmann Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 337 - 339
Quantitative surface analysis of coated hard metals with SIMS M. GrasserbauerG. StingederW. Wallgram Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 340 - 345
IIR- und SIMS-Tiefenprofilanalysen an dielektrischen Schichten und an GlasoberflĂ€chen mit einer modifizierten IonenĂ€tzanlage im Druckbereich von 10â6mbar K. H. GĂŒntherE. Hauser Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 346 - 346
Elektronenmikroskopische Strukturanalyse von MetalloberflÀchen nach Helium-Implantation W. JÀger Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 347 - 347
Auger-Elektronen-Spektroskopie an radioaktiven Materialien F. BaumgÀrtnerC. DachselR. Henkelmann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 348 - 348
Zur Analyse von Verwitterungsschichten an Steinartefakten Renate BÀsemann Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrÀge Pages: 349 - 349
ESCA-Untersuchungen der Tiefenverteilung von Fluorid in den Ă€uĂersten Schichten von Zahnschmelz H. UchtmannH. Duschner Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der VortrĂ€ge Pages: 350 - 350
Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy Z. ZadgorskaE. BauerH. Nickel Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 351 - 355
Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy Z. ZadgorskaH. NickelG. Wolff Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 356 - 361