Halbleiteruntersuchungen mit Hilfe radiochemischer Methoden W. Gebauhr OriginalPaper Pages: 209 - 221
Some applications of activation analysis for the determination of trace impurities in semiconductor materials J. HosteD. De Soete OriginalPaper Pages: 221 - 232
Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Gallium und Galliumarsenid durch Neutronenaktivierungsanalyse K. H. NeebH. StöckertH. P. Bleich OriginalPaper Pages: 233 - 239
Bestimmung von leichten Elementen in Silicium und Selen durch Ionenaktivierungsanalyse E. SchusterK. Wohlleben OriginalPaper Pages: 239 - 244
Bestimmung von Argon in durch Kathodenzerstäubung hergestellten SiO2-Schichten mittels Röntgenfluorescenzanalyse W. Hoffmeister OriginalPaper Pages: 244 - 246
Zur Kohlenstoffbestimmung in Halbleitersilicium W. BonselsJ. L. Lambert OriginalPaper Pages: 247 - 250
Über Vorgänge in Radelektroden und ihren Einfluß bei der spektrochemischen Lösungsanalyse H. Nickel OriginalPaper Pages: 250 - 266
Beitrag zur Anwendung stationärer homogener Magnetfelder bei der Emissionsspektralanalyse mil dem Gleichstrombogen D. LummerzheimH. Nickel OriginalPaper Pages: 267 - 274
Über eine Kombinationsmöglichkeit der Gas-Chromatographie mit der Flammenphotometrie für den Chlornachweis B. GutscheR. Herrmann OriginalPaper Pages: 274 - 278