Scanning tunneling microscopy: A powerful tool for surface analysis G. F. A. van de WalleB. J. NelissenH. van Kempen Lectures and Posters Pages: 108 - 112
Combined electron gas SNMS and SIMS instrument for trace and depth profile analysis with high dynamic range R. JedeK. SeifertG. Dünnebier Lectures and Posters Pages: 116 - 121
Analyse von Schichten und Schichtsystemen mit hochenergetischen Ionenstrahlen B. Stritzker Vorträge und Poster Pages: 122 - 128
SIMS analysis of poorly conducting surfaces G. BorchardtS. ScherrerS. Weber Lectures and Posters Pages: 129 - 132
Some recent developments in the surface-analytical application of X-ray fluorescence spectrometry W. H. Gries Lectures and Posters Pages: 133 - 138
Entscheidende Kriterien für die Small-Spot-XPS-Analyse J. KrizekK. BerresheimJ. Hochkirchen Vorträge und Poster Pages: 139 - 142
An ESCA study on the X-ray induced changes in polymeric materials Robert ChaneyGünter Barth Lectures and Posters Pages: 143 - 146
Neue Methode zur quantitativen Analyse von AES-Spektren M. PuchhammerA. RiahiH. Störi Vorträge und Poster Pages: 147 - 151
Bremsstrahlung induced Auger electron spectra (BAES) of transition metals K. BolwinS. WitzelS. Tougaard Lectures and Posters Pages: 152 - 157
Elektronenspektroskopische Untersuchung von Flüssigkeitsoberflächen W. KellerH. MorgnerW. A. Müller Vorträge und Poster Pages: 158 - 158
Akustische Rastermikroskopie als Methode zur Oberflächenuntersuchung Ludwig Josef Balk Vorträge und Poster Pages: 159 - 164
Zeit- und winkelaufgelöste Untersuchungen an Metalloberflächen durch mikroprozessorgesteuerte Simultanspektroskopie G. GauglitzR. MauserD. Oelkrug Vorträge und Poster Pages: 165 - 168
Nachweis von Wasserstoff (Deuterium) in Metall-Wasserstoff-Systemen mit Hilfe der SIMS-Technik H. ZüchnerB. HüserP. Kock Vorträge und Poster Pages: 169 - 173
Calibration of sputtering yields for AES depth profiling of oxide layers on aluminium by means of carrier-gas heat extraction analysis T. F. ChenR. P. H. GartenH. Jenett Lectures and Posters Pages: 174 - 179
Untersuchungen innerer Grenzflächen mit elektronenspektroskopischen Methoden H. Goretzki Vorträge und Poster Pages: 180 - 189
Analysis of thin films for industrial applications with a Scanning Auger Microprobe G. BachmannH. OechsnerJ. Scholtes Lectures and Posters Pages: 190 - 194
Surface analysis by work function measurements in a Scanning Auger Microprobe G. BachmannH. OechsnerJ. Scholtes Lectures and Posters Pages: 195 - 200
Microspot chemische Analyse mittels kombinierter hochaufgelöster AES und XPS P. StaibH. de RugyJ. Massies Vorträge und Poster Pages: 201 - 201
Untersuchung von implantierten Schichten (N 2 + , CO+) von Werkzeugstählen mit dem AES-Verfahren Milan KoutníkVáclav LandaHanuš Tuma Vorträge und Poster Pages: 202 - 205
SIMS-Tiefenverteilungsanalyse in Nichtleitern mit hoher Massenauflösung: P in SiO2/Si G. StingederU. TraxlmayrH. Pötzl Vorträge und Poster Pages: 207 - 207
Anwendungen eines digitalen Bildspeichersystems bei SIMS-Messungen M. PreussJ. WolstenholmeV. Dammann Vorträge und Poster Pages: 211 - 214
Application of SIMS in semiconductor research P. R. BoudewijnK. T. F. Janssen Lectures and Posters Pages: 215 - 219
Quantitative analysis of impurities in suicide layers with SIMS D. AvauW. VandervorstH. E. Maes Lectures and Posters Pages: 220 - 224
SIMS analysis of isolated graphite probes exposed to a tokamak plasma M. HashmiK. ErtlM. Huang Lectures and Posters Pages: 225 - 227
Multielement ultratrace analysis in tungsten using secondary ion mass spectrometry P. WilhartitzA. ViragH. M. Ortner Lectures and Posters Pages: 228 - 236
Determination of boron in silicon by SIMS with the matrix ion species ratio method F. MichielsF. Adams Lectures and Posters Pages: 237 - 239
Secondary ion mass spectroscopy (SIMS) study of LiNbO3 A. KischkoweitH. KoschmiederW. Heiland Lectures and Posters Pages: 240 - 241
Reinheitskontrolle von Wolfram mit der Funken-Massenspektrometrie H. E. BeskeG. FrerichsF. -G. Melchers Vorträge und Poster Pages: 242 - 246
Einfluß der Oberflächenmorphologie auf die elektrischen Eigenschaften tiefer Störstellen W. PlatenD. KohlK. Wolter Vorträge und Poster Pages: 247 - 249
Untersuchung der Anfangsstadien der Oxidation einer NiCr23-Legierung mit AES/XPS J. SteffenS. Hofmann Vorträge und Poster Pages: 250 - 255
Reflexionsspektroskopische Untersuchung des Oxidschichtwachstums auf Metalloherflächen D. OelkrugR. FüllemannH. Stauch Vorträge und Poster Pages: 256 - 260
Untersuchung dünner thermisch gewachsener Oxidschichten des Siliciums mittels Synchrotronstrahlung W. BraunH. Kuhlenbeck Vorträge und Poster Pages: 261 - 265
On the identification of interface oxides and interface serration by ARXPS A. DarlinskiJ. Halbritter Lectures and Posters Pages: 266 - 271
Oxidation of Zr and thin (0.2–4 nm) Zr films on Ag: an ESCA investigation P. SteinerI. SanderS. Hüfner Lectures and Posters Pages: 272 - 277
Eignung von Tiefenprofilanalysen zur Charakterisierung von Oxidschichten an Hochtemperaturlegierungen A. NaoumidisH. BeskeH. A. Schulze Vorträge und Poster Pages: 278 - 284
Chlorine-induced corrosion of silver surfaces studied by ultraviolet photoemission K. K. KleinherbersA. Goldmann Lectures and Posters Pages: 285 - 288
Korrosionstests an magnetischen Schichten und deren Beurteilung mit Hilfe ausgewählter oberflächenanalytischer Verfahren J. BartellaK. KastnerK. -H. Schuller Vorträge und Poster Pages: 289 - 291
AES- und XPS-Untersuchungen zum Einfluß von Chrom, Nickel und Molybdän auf das Korrosionsverhalten von rostfreien Stählen in Säuren H. KnoteS. HofmannH. Fischmeister Vorträge und Poster Pages: 292 - 297
Untersuchung der Korrosion an einer Hartlötverbindung mit Hilfe der Scanning-Auger-Mikrosonde W. BrandlH. BubertH. -D. Steffens Vorträge und Poster Pages: 298 - 304
AES-Untersuchungen an erodierten Eisen-Chrom-PVD-Schichten V. SchlettH. Stuke Vorträge und Poster Pages: 305 - 310
Untersuchungen zur Korrosion durch Kunststoffschmelzen an verschiedenen wärmebehandelten Werkzeugstählen mittels ESCA, AES und SIMS G. BachmannD. BraunH. Schmiedel Vorträge und Poster Pages: 311 - 322
Analyse dünner Korrosionsschichten auf Silicatglasoberflächen T. RichterG. H. FrischatS. Scherrer Vorträge und Poster Pages: 323 - 326
Korngrenzensegregation des Phosphors im Austenit und Einfluß von Kohlenstoff M. PajuH. ViefhausH. J. Grabke Vorträge und Poster Pages: 327 - 330
Strukturelle Aspekte bei Korngrenzensegregationsuntersuchungen R. MöllerH. Viefhaus Vorträge und Poster Pages: 331 - 331
Oberflächensegregation an Au-Pd-Legierungen G. HetzendorfP. Varga Vorträge und Poster Pages: 332 - 334
Transmission electron microscope and scanning auger investigations of temper-embrittled 12% Cr steel S. MandziejA. P. von RosenstielB. H. Kolster Lectures and Posters Pages: 335 - 341
