1. Dünnschicht- und Strukturanalyse mit Röntgen-, Elektronen- und Ionenstrahlen

   • H. W. Werner

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 209 - 209

2. Schwingungsspektroskopie an Oberflächen

   • H. Ibach

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 209 - 210

3. Ion beam induced effects in thin-film analysis

   • H. Oechsner

   Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 211 - 214

4. Quantitative Erfassung des Ionenstrahleinflusses beim Sputtering von Oxidschichten mit AES und XPS

   • S. Hofmann
   • J. M. Sanz

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 215 - 219

5. Festkörperanalysen mittels Nachionisation zerstäubter Neutralteilchen

   • W. O. Hofer
   • J. Giber
   • J. Schou

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 220 - 220

6. Laser-Lokal-Emissionsspektralanalyse an keramischen Werkstoffen

   • R. Siechau
   • K. Bürgers
   • H. Nickel

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 221 - 225

7. Simultane Multielementoberflächenanalyse mit der Glimmentladung — ein Schnellverfahren für die Oberflächencharakterisierung

   • M. Kretschmer
   • K.-H. Koch
   • D. Grunenberg

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 226 - 234

8. Emissionsspektrometrische Oberflächenanalyse mit Glimmentladungen. — Einige Betrachtungen zur quantitativen Analyse

   • A. Quentmeier
   • D. Demeny
   • K. Laqua

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 235 - 235

9. Einige Anwendungsbeispiele zur quantifizierenden Auger-Analyse

   • H. Schneider
   • C. Baum
   • E. Nold

   Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 236 - 236

10. Beitrag zur quantitativen Bestimmung von Legierungsbestandteilen in Stahl mittels Auger-Elektronenspektroskopie

    • H. Bubert

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 237 - 241

11. Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern

    • K.-H. Müller
    • H. Oechsner
    • T. Halden

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 242 - 243

12. Empfindlichkeits-Faktoren für quantitative ESCA, gemessen unter UHV-Bedingungen

    • K. Berresheim

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 243 - 243

13. Grenzen der Ortsauflösung bei SIMS

    • H. Liebl

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 244 - 244

14. Biologische Mikrosondenanalyse mit LAMMA — Erste Versuche zur quantitativen Analyse

    • Walter H. Schröder

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 244 - 245

15. Aufgaben und Probleme bei Korrosionsuntersuchungen an metallischen Werkstoffen für den Hochtemperaturreaktor-Primärkreislauf

    • H. Schuster

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 246 - 252

16. X-ray diffraction and microprobe analysis of high-temperature corrosion layers on INCOLOY 800 H

    • H. Grübmeier
    • A. Naoumidis
    • H. A. Schulze

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 253 - 257

17. Probleme und Ergebnisse von SIMS-Messungen an Stahloberflächen

    • J. Dittmann

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 258 - 258

18. Bestimmung der Sauerstoffsegregation an Vanadium-Oberflächen als Funktion der Temperatur durch SIMS

    • J.-M. Welter
    • H. N. Wachendorf

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 259 - 259

19. Analyse von chemisch behandelten Metalloberflächen durch ISS/SIMS

    • Herbert Puderbach

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 260 - 264

20. AES-Untersuchungen zur Ionenbeschußunterstützten Oxidation von Niob

    • H. W. Etzkorn
    • J. Wahrhusen
    • H. Oechsner

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 265 - 265

21. In situ-Untersuchungen von Metalloberflächen in Elektrolytlösungen

    • H. Neugebauer
    • G. Nauer
    • R. Kellner

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 266 - 272

22. Stoffübertragung durch Diffusion in der Gasphasen-Grenzschicht

    • J.-P. Pfeifer
    • W. J. Quadakkers

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 273 - 273

23. Analytical assistance in semiconductor and electronic material technology

    • H. W. Werner

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 274 - 284

24. Surface analysis of glass in the electronics industry

    • B. M. J. Smets
    • R. G. Gossink

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 285 - 288

25. Anwendung der Ionenstrahl- und Plasmaätztechnik in der elektronischen Feinstrukturierung und ihre analytische Problematik anhand praktischer Erfahrungen

    • Konrad Fischer
    • Dewey Frank Bazarre
    • Gerhard Liebel

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 289 - 292

26. Sensitivity limitations in the analysis of semiconductor devices with auger electron spectrometry (AES) and secondary ion mass spectrometry (SIMS)

    • R. v. Criegern
    • Th. Hillmer
    • I. Weitzel

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 293 - 299

27. Chemical analysis of thin semiconducting films using scanning auger electron spectroscopy

    • F. Birmans
    • J. Herion
    • G. Scharl

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 300 - 300

28. Probleme bei der quantitativen Analyse dünner Schichten

    • W. Bonsels
    • H. Carl

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 301 - 303

29. Quantitative distribution analysis of dopant elements in silicon with SIMS for the improvement of process modelling

    • G. Stingeder
    • M. Grasserbauer
    • R. Tielert

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 304 - 308

30. SIMS-Untersuchung der Qualität von pn-Übergängen in ionenimplantiertem und cw-laserausgeheiltem Silicium

    • M. Maier
    • D. Bimberg
    • F. Phillipp

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 309 - 309

31. Anwendungen der Oberflächenanalytik bei der Erforschung der heterogenen Katalyse

    • H. P. Bonzel

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 310 - 314

32. Decomposition of ethanol on Cu-ZnO and Pd-ZnO

    • W. Mokwa
    • D. Kohl
    • G. Heiland

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 315 - 318

33. Enhanced raman scattering from small metallic particles and Metallic Films

    • W. Krasser
    • P. S. Bechthold
    • U. Kettler

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 319 - 323

34. Mößbauerspektroskopische Phasenanalyse eisenhaltiger Oberflächenschichten

    • W. Meisel
    • P. Gütlich

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 324 - 325

35. Optische Massenspektrometrie kleinster Metallaggregate mittels 2-Photonen-Ionisation

    • L. Wöste
    • J. Weber

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 326 - 331

36. Analytische Fragestellungen bei der Erzeugung dünner Schichten

    • K. Hartig

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 332 - 335

37. Präparation, Charakterisierung und Eigenschaften dünner Schichten, die als Forschungsmaterialien verwendet werden

    • K. Reichelt
    • K. -H. Klatt
    • H. Wenzl

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 336 - 336

38. Determination of thickness and roughness of thin copper films by X-Ray diffraction measurements

    • K. Häupl
    • P. Wißmann

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 337 - 339

39. Quantitative surface analysis of coated hard metals with SIMS

    • M. Grasserbauer
    • G. Stingeder
    • W. Wallgram

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 340 - 345

40. IIR- und SIMS-Tiefenprofilanalysen an dielektrischen Schichten und an Glasoberflächen mit einer modifizierten Ionenätzanlage im Druckbereich von 10⁻⁶mbar

    • K. H. Günther
    • E. Hauser

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 346 - 346

41. Elektronenmikroskopische Strukturanalyse von Metalloberflächen nach Helium-Implantation

    • W. Jäger

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 347 - 347

42. Auger-Elektronen-Spektroskopie an radioaktiven Materialien

    • F. Baumgärtner
    • C. Dachsel
    • R. Henkelmann

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 348 - 348

43. Zur Analyse von Verwitterungsschichten an Steinartefakten

    • Renate Bäsemann

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 349 - 349

44. ESCA-Untersuchungen der Tiefenverteilung von Fluorid in den äußersten Schichten von Zahnschmelz

    • H. Uchtmann
    • H. Duschner

    Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge Pages: 350 - 350

45. Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy

    • Z. Zadgorska
    • E. Bauer
    • H. Nickel

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 351 - 355

46. Contribution to the quantitative analysis of oxide layers formed on high-temperature alloys, using inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy

    • Z. Zadgorska
    • H. Nickel
    • G. Wolff

    Original Papers and Abstracts of Lectures Pages: 356 - 361

47. Neue Geräte und Chemikalien

    Announcement Pages: A11 - A12

48. Bezugsquellen-Verszeichnis

    Legacy Pages: I - V