Zusammenfassung
Durch das trägheitsbehaftete Steuerverhalten eines Transistors erfährt ein impulsförmiges Steuersignal eine Amplitudenänderung, eine Verzögerung und Verformung. Um diese durch Impulskennwerte beschriebenen Veränderungen praktisch zu erfassen, bedient man sich der Impulsmeßtechnik.
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Paul, R. (1966). Messung der Kennwerte des Impuls- und Schaltverhaltens. In: Transistormeßtechnik. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-02740-9_6
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