Zusammenfassung
Die Röntgentopographie, welche in einer Vielzahl methodischer und experimenteller Setups existiert, basiert auf der Röntgenbeugung und bildet die Streueigenschaften einer Probe ortskorreliert ab. Auf diese Weise lassen sich ein- bis dreidimensionale Kristallbaufehler (keine nulldimensionalen) bildgebend und - im Falle von „Extended-Beam“-Methoden - auch großflächig abbilden.
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Bauch, J., Rosenkranz, R. (2017). XRT - Röntgentopographie. In: Physikalische Werkstoffdiagnostik. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_26
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