Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
References
D. M. Eigler and E. K. Schweitzer. Nature, 344:524, 1990.
K. F. Braun and K. H. Rieder. Phys. Rev. Lett., 88:096801, 2002.
J. Kliewer, R. Berndt, E. V. Chulkov, V. M. Silkin, P. M. Echenique, and S. Crampin. Science, 288:1399, 2000.
W. A. Hofer and A. J. Fisher. Phys. Rev. Lett., 91:036803, 2003.
F. Calleja, A. Arnau, J. J. Hinarejos, A. L. Vazquez de Parga, W. A. Hofer, P. M. Echenique, and R. Miranda. Phys. Rev. Lett., 92:206101, 2004.
V. L. Moruzzi, J. F. Janak, and A. R. Williams. Calculated Electronic Properties of Metals. 1978.
R. F. Feenstra. Surf. Sci., 299/300:965, 1994.
W.A. Hofer and J. Redinger. Surf. Sci., 447:51, 2000.
J. Bardeen. Phys. Rev. Lett., 6:57, 1961.
C. J. Chen. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy. Oxford University Press, Oxford, 1993.
J. Tersoff and D. R. Hamann. Phys. Rev. Lett., 50:1998, 1985.
J. Tersoff and D. R. Hamann. Phys. Rev. B, 31:805, 1985.
N. D. Lang. Phys. Rev. B, 34:5947, 1986.
J. A. Stroscio, D. T. Pierce, A. Davies, R. J. Celotta, and M. Weinert. Phys. Rev. Lett., 75:2960, 1995.
A. Biedermann, O. Genser, W. Hebenstreit, M. Schmid, R. Podloucky J. Redinger, and P. Varga. Phys. Rev. Lett., 76:4179, 1996.
J. Li, W.-D. Schneider, R. Berndt, and B. Delley. Phys. Rev. Lett., 80:2893, 1998.
G. Hörmandinger. Phys. Rev. B, 49:13897, 1994.
G. Kresse and J. Hafner. Phys. Rev. B, 47:558, 1993.
G. Kresse and J. Furthmüller. Phys. Rev. B, 54:11169, 1996.
P. Blöchl. Phys. Rev. B, 50:17953, 1994.
J. P. Perdew, S. H. Vosko, K. A. Jackson, D. J. Singh, and C. Fiolhais. Phys. Rev. B, 46:6671, 1992.
G. Nicolay, F. Reinert, S. Hüfner, and P. Blaha. Phys. Rev. B, 65:033407, 2001.
L. M. Molina, M. D. Rasmussen, and B. Hammer. J. Chem. Phys., 120:7673, 2004.
D. C. Meier and D. W. Goodman. J. Am. Chem. Soc., 126:1892, 2004.
R. Reinert. J. Phys: Condens. Mat., 15:S693, 2003.
P. M. Echenique, R. Berndt, E. V. Chulkov, T. Fauster, A. Goldmann, and U. Höfer. Surf. Sci. Rep., 52:219, 2004.
A. L. Vazquez de Parga, O. S. Hernan, R. Miranda, A. Levy Yegati, N. Mingo, A. Martyn-Rodero, and F. Flores. Phys. Rev. Lett., 80:357, 1998.
L. Burgi, H. Brune, O. Jeandupeux, and K. Kern. J. Electr. Spec. Rel. Phen., 109:33, 2000.
M. Bode. Rep. PRogr. Phys., 66:523, 2003.
D. D. Awschalom and J. M. Kikkawa. Physics Today, 52:33, 1999.
G. A. Prinz. Science, 282:1660, 1998.
Y. Ohno. Nature, 402:790, 1999.
B. Grandidier. Appl. Phys. Lett., 77:4001, 2000.
B. Beschoten, P. A. Crowell, I. Malajowich, and D. D. Awschalom. Phys. Rev. Lett., 83:3073, 1999.
Van Esch. Phys. Rev. B, 56:13103, 1997.
H. Ohno. J. Magn. Magn. Mater., 200:110, 1999.
A. Mikkelsen. Phys. Rev. B, 70:085411, 2004.
A. J. Heinrich, J. A. Gupta, C. P. Lutz, and D. M. Eigler. Science, 2004.
F. Tuomisto, K. Pennanen, K. Saarinen, and J. Sadowski. Phys. Rev. Lett., 93:055505, 2004.
F. Glas, G. Patriarche, L. Largeau, and A. Lemaitre. Phys. Rev. Lett., 93:086107, 2004.
F. Matsukara, H. Ohno, A. Shen, and Y. Sugawara. Phys. Rev. B, 57:2037, 1999.
S. Heinze, M. Bode, A. Kubetzka, O. Peitzsch, X. Nie, S. Blügel, and R. Wiesendanger. Science, 288:1805, 2000.
W. A. Hofer and A. J. Fisher. J. Magn. Magn. Mater., 267:139, 2003.
M. A. Lantz, H. J. Hug, P. J. A. van Schendel, R. Hoffmann, S. Martin, A. Baratoff, A. Abdurixit, H. J. Güntherodt, and Ch. Gerber. Phys. Rev. Lett., 84:2642, 2000.
S. M. Langkat, H. Hölscher, A. Schwarz, and R. Wiesendanger. Surf. Sci., 527:12, 2003.
R. Hoffmann, L. N. Kantorovich, A. Baratoff, H. J. Hug, and H. J. Güntherodt. Phys. Rev. Lett, 92:146103, 2004.
R. Hoffmann, C. Barth, A. S. Foster, A. L. Shluger, H. J. Hug, H. J. Güntherodt, R. M. Nieminen, and M. Reichling. J. Am. Chem. Soc., 127:17863, 2005.
W. Allers, A. Schwarz, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger. Rev. Sci. Instrum., 69:221, 1998.
S. Morita, R. Wiesendanger, and E. Meyer, editors. Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer, Berlin, 2002.
F. J. Giessibl, H. Bielefeldt, S. Hembacher, and J. Mannhart. Appl. Surf. Sci., 140:352, 1999.
R. Pérez, M. C. Payne, I. Stich, and K. Terakura. Phys. Rev. Lett., 78:678, 1997.
F. J. Giessibl. Science, 267:68, 1995.
M. A. Lantz, H. J. Hug, R. Hoffman, P. J. A. van Schendel, P. Kappenberger, S. Martin, A. Baratoff, and H. J. Güntherodt. Science, 291:2580, 2001.
R. Pérez, I. Stich, M. C. Payne, and K. Terakura. Phys. Rev. B, 58:10835, 1998.
M. A. Lantz, H. J. Hug, R. Hoffmann, S. Martin, A. Baratoff, and H. J. Güntherodt. Phys. Rev. B, 68:035324, 2003.
H. J. Hug, B. Stiefel, P. J. A. van Schendel, A. Moser, S. Martin, and H. J. Güntherodt. Rev. Sci. Instrum., 70:3625, 1999.
Y. Ma, A. S. Foster, and R. M. Nieminen. J. Chem. Phys., 122:144709, 2005.
Rights and permissions
Copyright information
© 2006 Springer Science+Business Media, LLC
About this chapter
Cite this chapter
(2006). Current and Force Spectroscopy. In: Scanning Probe Microscopy. NanoScience and Technology. Springer, New York, NY . https://doi.org/10.1007/0-387-37231-8_9
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/0-387-37231-8_9
Publisher Name: Springer, New York, NY
Print ISBN: 978-0-387-40090-7
Online ISBN: 978-0-387-37231-0
eBook Packages: Chemistry and Materials ScienceChemistry and Material Science (R0)