Zusammenfassung
Für die angestrebte Integration der in Abschnitt 3.2 vorgestellten Einzelpartikeltransistoren ist die Herstellung der Drain- und Source-Elektroden im nanoskaligen Abstand erforderlich. Im Folgenden wird daher eine kostengünstige Strukturierungsmethode zur Definition kleinster Geometrien im Nanometerbereich vorgestellt, die im Rahmen dieser Arbeit für die großflächige Integration der Nanostrukturen verwendet wird. Der Einsatz von konventionellen Lithografieverfahren ist zwar technisch möglich, jedoch aus Gründen der Verfügbarkeit und Kosten nicht umsetzbar. Weiterhin wird in diesem Abschnitt auf die notwendige Abscheidung von Nanopartikeln als Dünnfilm bzw. als Einzelpartikel durch Schleuderbeschichtung eingegangen. Die Beschichtung im Schleuderverfahren ist ein Standardprozess der Halbleiterprozesstechnologie, zeigt aber bei der Verwendung von Dispersionen als komplexe Feststoff-Flüssigkeits-Systeme wesentliche Unterschiede zum konventionellen Prozess.
This is a preview of subscription content, log in via an institution.
Buying options
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Learn about institutional subscriptionsPreview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Rights and permissions
Copyright information
© 2011 Vieweg+Teubner Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
About this chapter
Cite this chapter
Wolff, K. (2011). Integrationstechniken. In: Integrationstechniken für Feldeffekttransistoren mit halbleitenden Nanopartikeln. Vieweg+Teubner. https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8271-4_4
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8271-4_4
Publisher Name: Vieweg+Teubner
Print ISBN: 978-3-8348-1767-9
Online ISBN: 978-3-8348-8271-4
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)