Zusammenfassung
Beim Auftreffen von Röntgenstrahlung auf Materie werden Photo-, Auger-, Compton- und Sekundärelektronen emittiert. Ist die Probe ein Nichtleiter, so kann die Probenoberfläche einen Potentialwert annehmen, der die Genauigkeit der Meßergebnisse beeinflußt. Auf der Probenoberfläche herrscht ein Elektronendefizit, da mehr Elektronen die Oberfläche verlassen, als Elektronen vom Röntgenröhrenfenster und von Bauteilen der Probenkammer auf die Probe auftreffen. Auch eine oberflächlich auftretende Photoleitung reicht zur Kompensation der fehlenden Elektronen nicht aus.
Herrn Prof. Dr. Walter Koch zum 65. Geburtstag gewidmet und anläßlich des 7. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahlmikroanalyse, Wien, 23.–25. 10. 1974 vorgetragen.
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Literatur
M. F. Ebel und H. Ebel, J. Electron Spectrosc. Relat. Ph. 3, 169 (1974).
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E. H. Vakil, Diplomarbeit, Technische Hochschule Wien, 1974.
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© 1975 Springer-Verlag Wien
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Vakil, E.H., Ebel, M.F. (1975). Die Probenaufladung und ihre Kompensation bei röntgenphotoelektronenspektrometrischen Untersuchungen. In: Zacherl, M.K. (eds) Siebentes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse. Mikrochimica Acta, vol 6. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8422-6_31
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