Zusammenfassung
Nimmt man von Bruchoberflächen Röntgenrastermikrographien auf, so wird die Röntgenverteilung durch topographische Effekte verfälscht. Wir verfolgten bei unseren Versuchen den Grundgedanken, bei der Aufnahme von Rasterbildern an Bruchflächen nur Stellen mit geringen topographischen Unterschieden zu registrieren und zu vergleichen.
Vortrag anläßlich des 6. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 23. bis 25. Oktober 1972.
Vortragender.
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Literatur
O. Schaaber und H. Vetters, Möglichkeiten der Aufnahme und Auswertung von Röntgenrastermikrographien. Beiträge elektronenmikr. Direkt-abb. Oberfl. Graz (1972), Bd. V.
O. Schaaber,Scanning Electron Microscopy in Tools and Techniques in Physical Metallurgy, Ed. F. Weinberg, Vol. 2, New York: M. Dekker. 1970. S. 453.
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Schaaber, O., Vetters, H. (1974). Einsatz der Probenstromsteuerung bei der Mikroanalyse von Brüchen. In: Zacherl, M.K. (eds) Sechstes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 23. bis 25. Oktober 1972. Mikrochimica Acta, vol 5. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8351-9_7
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