Zusammenfassung
Bei der Röntgenfeinstrukturanalyse, die mit charakteristischer Röntgenstrahlung arbeitet, die praktisch unter gleichen Bedingungen wie bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, nur nicht so feinfokussiert erzeugt wird, wird im allgemeinen eine Anregungsspannung verwendet, die 3–4mal so groß ist wie die kritische Anregungsspannung. Diese Arbeitsweise stammt wohl daher, daß sich unter diesen Bedingungen bei den früher üblichen photographischen Aufnahmeverfahren die Linien aus dem Untergrund besonders kontrastreich hervorheben. Es muß jedoch berücksichtigt werden, daß hier noch etliche andere Faktoren, wie Filmempfindlichkeit, Entwicklung usw. eine Rolle spielen.
Vortrag anläßlich des 6. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 23. bis 25. Oktober 1972.
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Hein, W. (1974). Zur Frage der günstigsten Anregungsspannung bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse. In: Zacherl, M.K. (eds) Sechstes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 23. bis 25. Oktober 1972. Mikrochimica Acta, vol 5. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8351-9_1
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