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Ermittlung kleiner Diffusionskoeffizienten mittels SIMS in oxydischen Verbindungen

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Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976

Part of the book series: Mikrochimica Acta ((MIKROCHIMICA,volume 7))

Zusammenfassung

Kleine Diffusionskoeffizienten und die damit verbundenen kleinen Eindringtiefen markierter Teilchen in ein Material erfordern bei der Analyse der Konzentrationsprofile hohe örtliche Auflösung.

Vortrag anläßlich des 8. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronen- und Ionenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 27. bis 29. Oktober 1976.

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Authors and Affiliations

  1. Institut für Werkstoffwissenschaften, Lehrstuhl 1, Universität Erlangen — Nürnberg, Martensstraße 5, D-8520, Erlangen, Bundesrepublik Deutschland

    Dr. H. G. Sockel & Dipl.-Phys. D. Hallwig

Authors
  1. Dr. H. G. Sockel
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  2. Dipl.-Phys. D. Hallwig
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Editors and Affiliations

  1. Wien, Österreich

    M. K. Zacherl

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© 1977 Springer-Verlag Wien

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Sockel, H.G., Hallwig, D. (1977). Ermittlung kleiner Diffusionskoeffizienten mittels SIMS in oxydischen Verbindungen. In: Zacherl, M.K. (eds) Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976. Mikrochimica Acta, vol 7. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_6

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_6

  • Publisher Name: Springer, Vienna

  • Print ISBN: 978-3-211-81433-8

  • Online ISBN: 978-3-7091-3724-6

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