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Part of the book series: Mikrochimica Acta ((MIKROCHIMICA,volume 7))

Zusammenfassung

Das Auflösungsvermögen eines Spektrometers ist in erster Linie durch die physikalischen Eigenschaften des Systems bedingt. Die Faltung des Spektrums durch die Spektrometerfunktion führt dazu, daß sich eng benachbarte Spektrallinien überlagern können. Solche Überlagerungen lassen sich jedoch im Prinzip mit Hilfe der bekannten Methoden der mathematischen Entfaltung auflösen, wodurch es möglich wird, die Intensitäten der Linien quantitativ zu bestimmen. Das effektive Auflösungsvermögen des Systems kann also unter Umständen besser als die „Halbwertsbreite“ der Spektrallinien sein.

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Literatur

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© 1977 Springer-Verlag Wien

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Ryder, P.L. (1977). Statistische Meßfehler und Auflösungsgrenzen in der energiedispersiven Röntgenanalyse. In: Zacherl, M.K. (eds) Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976. Mikrochimica Acta, vol 7. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_15

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_15

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  • Print ISBN: 978-3-211-81433-8

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