Zusammenfassung
Das Auflösungsvermögen eines Spektrometers ist in erster Linie durch die physikalischen Eigenschaften des Systems bedingt. Die Faltung des Spektrums durch die Spektrometerfunktion führt dazu, daß sich eng benachbarte Spektrallinien überlagern können. Solche Überlagerungen lassen sich jedoch im Prinzip mit Hilfe der bekannten Methoden der mathematischen Entfaltung auflösen, wodurch es möglich wird, die Intensitäten der Linien quantitativ zu bestimmen. Das effektive Auflösungsvermögen des Systems kann also unter Umständen besser als die „Halbwertsbreite“ der Spektrallinien sein.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
H. Kaiser und H. Specker, Z. analyt. Chem. 149, 46 (1956).
P. L. Ryder, Proc. An. SEM Symposium, S. 111 (1975).
P. L. Ryder und S. Baumgartl, Thyssenforschung 4, 151 (1972).
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1977 Springer-Verlag Wien
About this paper
Cite this paper
Ryder, P.L. (1977). Statistische Meßfehler und Auflösungsgrenzen in der energiedispersiven Röntgenanalyse. In: Zacherl, M.K. (eds) Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976. Mikrochimica Acta, vol 7. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_15
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_15
Publisher Name: Springer, Vienna
Print ISBN: 978-3-211-81433-8
Online ISBN: 978-3-7091-3724-6
eBook Packages: Springer Book Archive