Zusammenfassung
Die Elektronenstrahlmikroanalyse ist seit ihrer Entwicklungl im Jahre 1949 zu einem Standardmeßverfahren metallkundlicher Analyse herangereift. Man schießt hierbei Elektronen fein fokussiert auf eine Meßprobe, die daraufhin Sekundärstrahlung verschiedener Art und Energie emittiert. Für die chemische Analyse ist die charakteristische Röntgenstrahlung die wichtigste Strahlungsart, da ihre Energie nach dem Moseleyschen Gesetz2 eine Identifizierung der Atomsorten des Präparates gestattet.
Vortrag anläßlich des 8. Kolloquiums über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronen- und Ionenstrahl-Mikroanalyse, Wien, 27. bis 29. Oktober 1976.
This is a preview of subscription content, log in via an institution.
Buying options
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Learn about institutional subscriptionsPreview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
R. Castaing und A. Guinier, Electron Microscope, Proc. Delft Conf., 60 (1949).
H. G. J. Moseley, Phil. Mag. 26, 1024 (1913).
R. Castaing, Ph. D. Thesis, Université de Paris, 1951.
S. J. B. Reed, Electron Microprobe Analysis, Cambridge: Cambridge Univ. Press. 1975.
J. Böcker, Dissertation, Universität Göttingen, 1976.
Th. Hehenkamp und J. Bäcker, in: E. Preuss, ed., Quantitative Analysis with Electron Microprobes and Secondary Ion Mass Spectrometry, Jül-Conf-8 (1973) 57.
H. Kulenkampff, Ann. Phys. (Leipzig) 69, 548 (1922).
T. S. Rao-Sahib und D. B. Wittry, J. Appl. Phys. (45) 11, 5060 (1974).
J. Philibert, in: H. H. Pattee, V. E. Cosslett und A. Engström, ed., X-ray Optics and X-ray Microanalysis, New York: Academic Press. 1963. S. 379.
K. F. J. Heinrich, Paper presented at 2nd Nat. Conf. on Electron Microprobe Analysis, Boston, 1967.
P. Duncumb und P. K. Shields, in: Mc Kinley, K. F. J. Heinrich und D. B. Wittry, ed., The Electron Microprobe, New York: Wiley. 1966. S. 284.
Th. Hehenkamp und J. Böcker, Mikrochim. Acta [Wien], Suppl. V, 1974, 29.
H. A. Kramers, Phil. Mag. 46, 836 (1923).
J. A. Engström, ed., X-ray Optics and X-ray Microanalysis, New York: Academic Press. 1963. S. 451.
A. R. Büchner, Arch. Eisenhüttenwes. 44, 143 (1973).
G. Springer, N. Jb. Miner. Abh. 106 (3), 241 (1967).
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1977 Springer-Verlag Wien
About this paper
Cite this paper
Böcker, J., Hehenkamp, T. (1977). Bremsstrahlungsuntergrund massiver Proben bei der Elektronenstrahlmikroanalyse. In: Zacherl, M.K. (eds) Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976. Mikrochimica Acta, vol 7. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_14
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6_14
Publisher Name: Springer, Vienna
Print ISBN: 978-3-211-81433-8
Online ISBN: 978-3-7091-3724-6
eBook Packages: Springer Book Archive