Zusammenfassung
Ziel: Wir wollen uns nun mit der Abbildung von Strukturen beschäftigen, deren Größen nahe der Auflösungsgrenze des Transmissionselektronenmikroskops liegen. Die Atomabstände in den Kristallgittern sind in dieser Größenordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzflächen auf atomarer Skale gehört dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergrößerten und hochaufgelösten Abbildung amorpher Materialien auftreten.
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© 2013 Springer-Verlag Wien
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Thomas, J., Gemming, T. (2013). Wir erhöhen die Vergrößerung. In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_7
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_7
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Publisher Name: Springer, Vienna
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