Skip to main content

Wir schalten um auf Elektronenbeugung

  • Chapter
  • First Online:
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Zusammenfassung

Ziel: Ein großer Vorteil des Transmissionselektronenmikroskops ist es, dass auf einfache Weise zwischen der Abbildung von sehr kleinen Strukturen in einer dünnen Probe und dem Beugungsmuster von den gleichen Strukturen umgeschaltet werden kann. Wir wollen deshalb erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit wir die Beugungsmuster auch sehen können. Schließlich wollen wir erläutern, welche materialwissenschaftlichen Erkenntnisse aus den Beugungsmustern erhalten werden können. Dazu ist es notwendig, einige Grundkenntnisse über den Aufbau der Kristalle zu vermitteln.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 39.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Corresponding authors

Correspondence to Jürgen Thomas or Thomas Gemming .

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 2013 Springer-Verlag Wien

About this chapter

Cite this chapter

Thomas, J., Gemming, T. (2013). Wir schalten um auf Elektronenbeugung. In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_5

Download citation

Publish with us

Policies and ethics