Zusammenfassung
Ziel: Können die Intensitätsmodulationen beim Auftreffen einer Welle auf eine Kante wirklich durch das Huygenssche Prinzip erklärt werden? Besitzen rotationssymmetrische magnetische Felder für Elektronen tatsächlich Linseneigenschaften? Wie kommt man auf die Formeln für die Berechnung von Beugungsreflexabständen und Winkeln zwischen Beugungsreflexen, wenn es sich nicht um ein kubisches Gitter handelt? Wir wollen versuchen, diese und ähnliche Fragen in diesem Kapitel zu beantworten. Dabei lässt es sich nicht vermeiden, dass die Mathematik eine weitaus größere Rolle spielt als vorher. In einigen Fällen haben wir kleine Computerprogramme geschrieben, um aus den Modellen quantitative Aussagen zu gewinnen.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding authors
Rights and permissions
Copyright information
© 2013 Springer-Verlag Wien
About this chapter
Cite this chapter
Thomas, J., Gemming, T. (2013). Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik). In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_10
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_10
Published:
Publisher Name: Springer, Vienna
Print ISBN: 978-3-7091-1439-1
Online ISBN: 978-3-7091-1440-7
eBook Packages: Life Science and Basic Disciplines (German Language)