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Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik)

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Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Zusammenfassung

Ziel: Können die Intensitätsmodulationen beim Auftreffen einer Welle auf eine Kante wirklich durch das Huygenssche Prinzip erklärt werden? Besitzen rotationssymmetrische magnetische Felder für Elektronen tatsächlich Linseneigenschaften? Wie kommt man auf die Formeln für die Berechnung von Beugungsreflexabständen und Winkeln zwischen Beugungsreflexen, wenn es sich nicht um ein kubisches Gitter handelt? Wir wollen versuchen, diese und ähnliche Fragen in diesem Kapitel zu beantworten. Dabei lässt es sich nicht vermeiden, dass die Mathematik eine weitaus größere Rolle spielt als vorher. In einigen Fällen haben wir kleine Computerprogramme geschrieben, um aus den Modellen quantitative Aussagen zu gewinnen.

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© 2013 Springer-Verlag Wien

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Thomas, J., Gemming, T. (2013). Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik). In: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_10

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