Prüfung der Leistung eiues Mikroskopes

Zusammenfassung

Die Leiftungsfähigkeit eines Mikroskopes bei der Erschließung feiner Strukturen nähert sich um so mehr dem theoretischen Wert des Auflösungsvermogens, je besser die Strahlenvereinigung der Mikroskopoptik ist. Diese ist hauptsächlich von der Korrektion des Objektives abhängig. Die Prüfung der Objektiosysteme erstreckt sich 1. auf die Güte ihrer Korrektion und 2. aus das Auflösungsvermögen. Die erste Prüfung wird am besten mit Hilfe der Abbefchen Testplatte vorgenommen. Diese stellt ein künstliches Objekt dar, das durch Einreißen von Gruppen paralleler gerader Linien in eine Undurchsichtige Silberschicht erhalten ist. Bei der neuesten Form ist die Silberschicht an der Unterseite eines langen, schmalen, in der Längsrichtung keilförmigen Deckgutes niedergeschlagen. Die Abstände der einzelnen Linien find so groß bemessen, daß sie mit den schwächsten mikroskopischen Vergrößerungen noch aufläsbar sind. Das Bild, welches die Abbe-sche Testplatte bei stärkerer Vergrößerung unter dem Mikroskop bietet, ist in Abb. 42 wiedergegeben. Jeder Silberstreifen erscheint dabei als zackig begrenztes dunkles Band. Die Dicken des keilförmigen Deckglases sind in Intervallen von 1/100 mm von etwa 0,09–0,24 mm direkt ablesbar auf dem Objektträger aufgetragen.