Zusammenfassung
Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) stellt ein wichtiges Hilfsmittel für werkstoffkundliche Untersuchungen dar. Es ermöglicht die direkte Beobachtung von linien- und flächenförmigen sowie räumlichen Gitterstörungen wie Versetzungen, Stapelfehlern, Zwillingen, Korngrenzen und Ausscheidungen in interessierenden Werkstoffbereichen. Dazu sind von diesen durch geeignete Präparationsschritte hinreichend dünne Folien (d < 0.1 µm) anzufertigen, die von Elektronen mit Energien > 100 keV durchstrahlt werden können. Zunächst werden aus den vorliegenden größeren Werkstoffvolumina charakteristische Bereiche mechanisch herausgearbeitet. Diese werden anschließend möglichst schonend mechanisch, funkenerosiv, elektrochemisch oder mit Ionenätzung auf Dicken von < 150 µm abgedünnt. Danach wird ein sorgfältiges Enddünnen (z. B. elektrochemisch oder mit Ionenätzung) durchgeführt. Die an den so hergestellten Folien transmissionselektronenmikroskopisch sichtbar gemachte Mikrostruktur ist nur dann repräsentativ für den Werkstoff, wenn sie durch die Präparation keine Veränderung erfahren hat.
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Literatur
M. V. Heimendahl, Einführung in die Elektronenmikroskopie, Vieweg, Braunschweig, 1970.
G. Thomas, M.J. Goringe, Transmission Electron Microscopy of Materials, Wiley and Sons, New York, 1979.
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Macherauch, E. (1990). Transmissionselektronenmikroskopie von Werkstoffgefügen. In: Praktikum in Werkstoffkunde. Uni-Text. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-14841-8_20
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-663-14841-8_20
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-528-83306-0
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