Zusammenfassung
In den vorhergehenden Kapiteln haben wir die allgemeine Architektur eines 68000Systems besprochen. Dabei wurden genaue Einzelheiten bezüglich der Wirkungsweise des 68000 angegeben. In Kapitel 5 haben wir das Konzept des statischen Stimuliertests (SST) eingeführt. Beginnend mit diesem Kapitel und bis zum Ende dieses Buches werden wir die Überlegungen der ersten 5 Kapitel wesentlich vertiefen. Die verbleibenden Kapitel untersuchen, wie die bisher gegebene Information anzuwenden ist.
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Coffron, J.W. (1985). Fehlersuche bei ROMs. In: Der Mikroprozessor 68000. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-14183-9_6
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-663-14183-9_6
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-528-04330-8
Online ISBN: 978-3-663-14183-9
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