Zusammenfassung
In diesem Kapitel wird die Grundlage der Hardware-Fehlersuche mit dem Statischen Stimuliertest (SST) besprochen. Diese Technik wurde bereits 1980 in einem Lehrbuch* beschrieben. Der statische Stimuliertest wurde ursprünglich als eine Fehlersuchtechnik für 8-Bit-Mikroprozessorsysteme in der Industrie entwickelt, und zwar aus der Notwendigkeit heraus Mikroprozessorsysteme zu reparieren, die sich in zwei Hauptkategorien einteilen lassen:
-
1.
Systeme, die einmal katastrophales Fehlverhalten gezeigt haben und nun keinerlei Software mehr ausführen können.
-
2.
Systeme, die noch im Zustand eines Prototyps sind und niemals gearbeitet haben. Diese Systeme haben entweder noch Fehler oder die Software ist nicht komplett und kann deshalb nicht für die Diagnose verwendet werden. Bei diesen Systemen möchte der Entwickler die richtige Arbeitsweise der Hardware ohne die Anwendung von Systemsoftware prüfen.
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Coffron, J.W. (1985). Statischer Stimuliertest beim 68000. In: Der Mikroprozessor 68000. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-14183-9_5
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-663-14183-9_5
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-528-04330-8
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