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Das Rietveld Verfahren

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Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode

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Zusammenfassung

Die Pulverdiffraktometrie ist schon seit Jahrzehnten eines der wichtigsten Instrumente für die Identifizierung und strukturelle Charakterisierung von Materialien. Im Prinzip gibt es keinen Unterschied zwischen Einkristall- und Pulverdaten. Ein ideales Pulverdiffraktometerdiagranun enthält die vollständige Strukturinformation des untersuchten polykristallinen Materials. Sie ist als Überlagerung der Fourier Transformierten vieler Kristalle in statistisch verteilter Orientierung im reziproken Raum anzusehen. Eine Analyse der Peakprofile und die vollständige Aufteilung der Anteile von überlappenden Reflexen führt im Prinzip zu einem Datensatz ähnlich einer Einkristalluntersuchung. Der wichtigste und entscheidende Schritt einer solchen Analyse beruht auf der vollständigen Aufteilung der Intensitätsanteile, selbst bei sehr starker Überlappung der Reflexe. Solche,„pseudo Einkristall“ Datensätze würden es erlauben, die sehr ausgereiften Techniken zur Strukturbestimmung mittels Einkristallen (Patterson-, Fourier-, Direkte-Methoden, (vergl. 6)) auch für polykristalline Materialien zu nutzen.

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  1. Harald Krischner
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  2. Brigitte Koppelhuber-Bitschnau
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Krischner, H., Koppelhuber-Bitschnau, B. (1994). Das Rietveld Verfahren. In: Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-12348-4_7

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