Zusammenfassung
Das Vorgehen beim Ausmessen von Debye-Scherrer-Aufnahmen sowie StraumanisFilmen wurde bereits besprochen (vergl. 2.3). Seemann-Bohlin-Aufnahmen können in ähnlicher Weise ausgemessen werden, doch sind die Linienabstände doppelt so groß wie bei Debye-Scherrer-Kameras desselben Durchmessers. Bei Zählrohrdiffraktometeraufnahmen wird die Lage der Beugungsmaxima bei manueller Auswertung direkt am Schreiberdiagramm in Graden abgelesen. Die Ablesegenauigkeit wird durch eine langsame Goniometergeschwindigkeit, verbunden mit einem raschen Papiervorschub, gesteigert. Automatische Pulverdiffraktometer (APD) verwenden Peaksuchroutinen und stellen die Daten am Bildschirm oder als Schreiberdiagramm dar und registrieren sie auch in digitaler Form.
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Literatur
JCPDS-POWDER DI1IFRACTION FILE, compiled by the Joint Committee on Powder diffraction standards (JCPDS), 1601 Park Lane, Swarthmore, Pennsylvania 19081, USA. ICDD-International Centre for Diffraction Data, Newtown Square Corporate Campus, Pennsylvania 19073–3273, U.S.A.
Hanawalt, J. D., Rinn, H. und Frevel, L. K., Ind. Eng. Chem. Anal. 10 (1938) 457.
Bravais, M. A.,J. de l’Ecole Polyt. Cahier XIX (1850) 1.
Kleber, W., Einführung in die Kristallographie, VEB Berlin (1962).
Buerger, M. J., Elementary Crystallography, J. Wiles (1963).
Hull, A. W. und Davey, W. P., Phys. Rev. 17 (1921) 549.
Schwarz, K. v. und Summa, O., Praktische Auswertungshilfsmittel für Feinstrukturuntersuchungen, München (1932).
Ito, T., X-ray studies on polymorphism. Maruzen Co. Ltd., Tokyo (1950).
Torkar, K., Krischner, H. und Radl, H., Mh. Chem. 96 (1965) 932.
Lipson, H., Acta Cryst. 2 (1949) 43.
Shirley, R.,NBS Special Report 567 (1980).
De Wolff, P. M., J. Appl. Cryst. 1 (1968) 108.
Walitzi, E. M., Krischner, H., Z. Krist. 132 (1970) 19.
Smith, D. K., Nichols, M. C. und Zolensky, M. E., The Pennsylvanian State University (1983);
Smith, D. K. et al.,Powder Diffraction 2 (1987) 73.
Werner, P. E., Z. Kristallogr. 120 (1964) 375.
Visser, J. W., J. Appl. Cryst. 2 (1969) 89.
Louer, D. and Louer, M., J. Appl. Cryst. 5 (1972) 271.
Werner, P. E., Erikson, L. und Westdahl, M., J. Appl. Cryst. 18 (1985) 367.
Smith, G. M. und Snyder, R. L., J. Appl. Cryst. 12 (1979) 60.
Niggli, P., Handbuch der Experimentalphysik, Vol. 7 (1928), Akad. Verlagsgesellschaft Leipzig.
International Tables A., Reidel D.,(1983).
Cohen, M. U., Rev. Sci. Instruments 6 (1935) 68, 7 (1936) 155.
Mighell, A. D., Hubbard, C. R., Stalick J. K. and Holomany, M. A., NBS*A/DS83, JCPDS (1983).
Lihl, F., Metallkundl. Ber. 14 (1951).
Alexander, L. E. und Klug, H. P., Anal. Chem. 20 (1948) 886. Ballard, J. W., Oshry, H. J. und Schrenk, H. H., J. Opt. Soc. Am. 33 (1943) 667.
Snyder, R. J. und Hubbard, C. R., Nat. Bur.S tds. (1984)
Clark, G. L., Applied X-Rays, McGraw-Hill (1955).
Scherrer, P., Göttinger Nachr. 2 (1918) 98.
Kochendörfer, A., Z. Krist. 105 (1944) 393.
Kratky, O. und Porod, G., J. Colloid. Sci. 4 (1949) 35;
Kratky, O., Pure and Applied Chem. 12 (1966) 197;
Kratky, O., Porod, G. und Skala, Z., Acta Phys. Austr. 13 (1960) 76;
Hosemann, R., Erg. exakt. Naturw. 24 (1951) 142;
Yudowitch, K. L., Bibl. of small angle X-ray scattering, Am. Cryst. Ass. 1 (1952).
Kratky, O., Nova Acta Leopoldina 256 NF, Bd. 55 (1983).
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Krischner, H., Koppelhuber-Bitschnau, B. (1994). Auswertung von Pulveraufnahmen (Geometrie der Beugung). In: Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode. Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden. https://doi.org/10.1007/978-3-663-12348-4_3
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-663-12348-4_3
Publisher Name: Vieweg+Teubner Verlag, Wiesbaden
Print ISBN: 978-3-528-48324-1
Online ISBN: 978-3-663-12348-4
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