Einleitung

Zusammenfassung

Die Ionisation innerer Schalen bei Atom-Ion-Stößen und die dabei auftretende Emission charakteristischer Röntgenstrahlung wird seit mehreren Jahrzehnten untersucht und wird heute für leichte Projektile gut verstanden. Die Anwendung auf eine simultane quantitative Bestimmung von Spurenelementen wurde jedoch erst durch die Entwicklung hochauflösender Silizium- und Germanium-Halbleiterdetektoren möglich. Das Auflösungsvermögen solcher energiedispersiven Snektrometer reicht aus, benachbarte Elemente oberhalb von Kohlenstoff anhand ihrer charakteristischen Röntgenlinien nachzuweisen. Zur Elementanalyse werden Targets, die die Spurenelemente enthalten, mit beschleunigten Ionen von 0,5 bis 5 MeV/Nukleon beschossen und die emittierten Röntgenstrahlen spektroskopiert. Für Protonen ist dies schon an relativ kleinen und preiswerten Beschleunigeranlagen mühelos möglich. Wegen der hohen Wirkungsquerschnitte für die Erzeugung charakteristischer Röntgenstrahlen ermöglicht diese Methode hohe Empfindlichkeiten auch dort, wo nur geringe Probenmengen zur Verfügung stehen¹⁾. Für die simultane Analyse ist von Bedeutung, daß sich der Wirkungsquerschnitt für Röntgenerzeugung nur langsam und kontinuierlich über das periodische System ändert im Gegensatz zur Neutronenaktivierungsanalyse, wo größere Unterschiede bei Neutroneneinfangsquerschnitten und Zerfallswahrscheinlichkeiten starke Empfindlichkeitsschwankungen von Element zu Element zur Folge haben.