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Testen „im Großen“

  • Eike Hagen Riedemann
Chapter
Part of the Leitfäden der Informatik book series (XLINF)

Zusammenfassung

Mit den in Teil II und III dieses Buches vorgeschlagenen Methoden wurde nur die Funktion (das Eingabe-/Ausgabeverhalten) der Programme getestet. Zur Überprüfung der Qualität eines Systems gehört aber mehr (s. Kapitel 3.2). Daher hat das Testen eines Systems viele Aspekte, die zur Klassifikation der Testverfahren dienen können. Es handelt sich dabei im einzelnen um:

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Literatur

  1. 1.
    wörtlich: Rückbildung“; hier im Sinne vonVerschlechterung“ gebrauchtGoogle Scholar
  2. 2.
    vgl. Def. 3.2.1.3 bis Def. 3.2.1.4 auf S. 50 if.Google Scholar
  3. 3.
    Vgl. Kapitel 12.2.1, Nebenprodukte der Analysen. Bei einer genaueren Betrachtung ist auch noch von Interesse, wie oft (an wieviel verschiedenen Programmstellen) Operation P die Operation Q aufruft.Google Scholar
  4. 4.
    Die Kanten im Modulgraph sollten bei einer genaueren Betrachtung mit den Namen der verschiedenen aufgerufenen Operationen markiert werden.Google Scholar
  5. 5.
    Das Versorgen mit Eingabedaten, die von unteren Modulen geliefert werden, ist auch beim Modul an der Spitze der Hierarchie problematisch.Google Scholar
  6. 6.
    Hier wird eine zweistufige Hierarchie angenommen: Module als Teile des Gesamtsystems. Bei mehreren Stufen (z. B. Module, Komponenten, Teilsysteme, System) ist für jede Stufe die Art und Weise und Reihenfolge der Integration festzulegen.Google Scholar
  7. 7.
    Aufsteigendes Testen bedeutet nicht aufsteigendes (bottom up) Entwerfen. Vielmehr verträgt es sich mit absteigendem (top down) Entwurf. Aufsteigendes Testen verhindert allerdings das Überlappen von Entwurf, Codierung und Testen (vgl. ambivalente Eigenschaft 1 beim absteigenden Testen, s. unten).Google Scholar
  8. 8.
    Beim aufsteigenden Test ist dies nicht so wichtig, da in der Hierarchie »parallel" liegende Module (z. B. E neben dem Teilsystem {C, F, G, I, K} bei Abbildung 13.3b) davon nicht profitieren.Google Scholar
  9. 9.
    Als Nebeneffekt wirkt sich dies auch positiv auf die Motivation des Entwicklungspersonals aus.Google Scholar
  10. 10.
    Die Ausgabe von E ist leicht zu beobachten, wenn die Werte durch zusätzlich in E eingebaute Druckanweisungen ausgegeben werden. Dann besteht aber die Gefahr der Verfälschung des Verhaltens von E, da nicht E, sondern ein modifiziertes E getestet wird.Google Scholar
  11. 11.
    bei einem fehlerhaften Informationsfluß im Wiederverwendungs-ManagementGoogle Scholar
  12. 12.
    siehe S. 344Google Scholar
  13. 13.
    Ein Beispiel ist eine Untersuchung von Rowland/Zuyuan, die für künstliche Modulhierarchien folgendes ergeben hat: Für Hierarchien mit fünf Ebenen findet ein aufsteigender Test, bei dem nach jedem Teilsystemtest die gefundenen Fehler korrigiert werden, etwa doppelt so viele Fehler wie ein monolithischer Test mit 10 Testläufen mit je 200 zufällig erzeugten Testdaten, bei dem nach jedem Testlauf die Fehler entfernt werden. Für Modulhierarchien mit nur vier Ebenen sind die Unterschiede zwischen den beiden Teststrategien dagegen nicht signifikant (s. [RoZ 89]).Google Scholar
  14. 14.
    siehe Definition 7.2.1 auf S. 195Google Scholar
  15. 15.
    genaueres dazu siehe [WeO 80] und Kapitel 16.3Google Scholar
  16. 16.
    Die Anforderungen 1 und 2 sind widersprüchlich: Um Forderung 2 zu erfüllen, braucht man evtl. viele kleine Module, zwischen denen viele Kopplungen bestehen. Um dagegen Forderung 1 zu erfüllen, braucht man evtl. relativ große, umfassende Module, die keinen hohen inneren Zusammenhang aufweisen.Google Scholar
  17. 17.
    Da nicht jeder Weg, für den eine Anomalie festgestellt wird, ausführbar ist, sind dies nur potentielle Anomalien, deren Ausführbarkeit durch symbolische Berechnung (vgl. Kapitel 12.3) oder durch Testen festgestellt werden muß.Google Scholar
  18. 18.
    Eingabeparameter und globale VariablenGoogle Scholar
  19. 19.
    Ein Vektor (L1) wird hier als transponiertes Tupel (El E2) T geschrieben.Google Scholar
  20. 20.
    jede Kombination der m Eingabefehlerarten, d. h. jede Abweichung von der korrekten Eingabe in irgendeiner (oder mehreren) Fehlerrichtung(en) an:Google Scholar
  21. 21.
    stabil: 0 bis 0,5 Fehler pro 1000 Codezeilen, reifend: 0,5 bis 3 Fehler pro 1000 CodezeilenGoogle Scholar
  22. 22.
    s. Kapitel 13.1, Aspekt 1. (Genaueres dazu siehe in [RoH 94].)Google Scholar
  23. 23.
    Augusto Celentano, Polytecnico de Milano, nicht Adriano Celentano(Sänger und Schauspieler).Google Scholar

Copyright information

© Springer Fachmedien Wiesbaden 1997

Authors and Affiliations

  • Eike Hagen Riedemann
    • 1
  1. 1.Universität DortmundDortmundDeutschland

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