Zusammenfassung
Das in Kapitel 6.3.1.3 analysierte Verhalten des Diodensignals in Abhängigkeit von der Belichtungsanzahl kann nun genutzt werden, um eine automatisierte Erkennung der vollständigen Durchtrennung innerhalb eines Algorithmus zu realisieren.
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Oberlander, M. (2020). Ansätze zur In-Prozess-Überwachung. In: Prozessüberwachung beim Laser-Remote-Trennen. Light Engineering für die Praxis. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-61513-3_7
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-61513-3_7
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Publisher Name: Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg
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