Zusammenfassung
Die 1912 von M. v. LAUE (Nobelpreis 1914), W. FRIEDRICH und P. KNIPPING entdeckte Röntgen-beugung an Kristallen wird in einem Diffraktometer technisch umgesetzt. Dabei wird ein mittels Blenden geformter, monochromatischer Röntgenstrahl auf das Untersuchungsgebiet der Probe gerichtet. Die gemäß der Bragg‘schen Gleichung an den interferenzfähigen Netzebenen der Kristallite gebeugte Strahlung wird vom Detektor registriert. Werden bei bekannter Wellenlänge die Beugungswinkel gemessen, bei denen die Reflexe auftreten, so können die entsprechenden Netzebenenabstände errechnet werden und zur Phasenbestimmung herangezogen werden.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Rights and permissions
Copyright information
© 2017 Springer-Verlag GmbH Deutschland
About this chapter
Cite this chapter
Bauch, J., Rosenkranz, R. (2017). XRD - Röntgenvielkristalldiffraktometrie. In: Physikalische Werkstoffdiagnostik. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_22
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_22
Published:
Publisher Name: Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-662-53951-4
Online ISBN: 978-3-662-53952-1
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)