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Zusammenfassung

Im vorigen Kapitel haben wir gesehen, dass das Modell des freien Elektronengases einige, aber nicht alle elektrischen Eigenschaften der Metalle erklären kann. Eine wesentliche Verbesserung bringt das Bändermodell der Festkörper, in dem die Wechselwirkung der Elektronen mit dem Kristallgitter berücksichtigt wird. Das Bändermodell stellt auch die Abgrenzung zwischen Metallen und Isolatoren klar und ermöglicht, die Eigenschaften der Halbleiter zu diskutieren.

Mit dem Bändermodell und mit der Klassifizierung von Festkörpern nach ihrer elektrischen Leitfähigkeit werden wir uns im ersten Abschnitt befassen. Im zweiten Abschnitt geht es um die Leitfähigkeit von reinen und von gezielt mit Fremdatomen dotierten Halbleitern. Es zeigt sich, dass eine Leitfähigkeit sowohl durch Leitungselektronen als auch durch bewegliche Löcher, Stellen mit fehlenden Elektronen, zustande kommen kann. Im ersten Fall spricht man von n-Leitung, weil die Ladungsträger hauptsächlich negative Ladung tragen, im zweiten Fall von p-Leitung, weil der Stromfluss durch die Beweglichkeit positiver Ladung bewirkt wird.

Der zweite Teil des Kapitels ist den technischen Anwendungen der Halbleiter-Physik gewidmet: Halbleiterdiode, Fotodiode, Transistoren, Feldeffekte, XXX, integrierte Schaltungen, CCDs.

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Notes

  1. 1.

    Ein Strom, getragen von Elektronen. Daneben gibt es in Ionenkristallen auch stets eine Leitfähigkeit, die durch die Bewegung von Ionen verursacht ist. Sie hängt stark von der Temperatur ab; bei Raumtemperatur ist sie sehr klein.

  2. 2.

    Näheres über diese interessante Technik findet man in W. G. Pfann, Zone Refining, Scientific American 217, Dez 1967, S. 63. Das Verfahren funktioniert leider nur beim Silizium; nur das flüssige Si hat eine so hohe Oberflächenspannung, dass es nicht heraustropft.

  3. 3.

    Eine leicht fassliche Kurzdarstellung findet man im einführenden Kapitel des Buchs S. M. Sze, Semiconductor Devices, Physics and Technology, John Wiley & Sons (1985).

  4. 4.

    Die beste Methode ist die Messung der Zyklotronresonanz (Abschn. 13.4). Theorie und Experiment zeigen, dass bei vielen Halbleitern \(m^{\ast}\) davon abhängt, in welcher Richtung sich die Ladungsträger durch den Kristall bewegen. Die in Tab. 10.1angegebenen effektiven Massen sind die für die Beschreibung der thermischen Bewegung geeigneten Mittelwerte.

  5. 5.

    Die Darstellung ist völlig unrealistisch: Damit man etwas erkennen kann, wurde eine viel zu hohe Temperatur angenommen (vgl. Abb. Abb. 9.3).

  6. 6.

    Siehe Ch. Kittel u. H. Kroemer, Thermal Physics, Kap. 13. (W. H. Freeman, 1980).

  7. 7.

    Das älteste Halbleiterbauelement überhaupt war übrigens eine Art Schottky-Diode: In der Frühzeit der Funktechnik benutzte man zum Rundfunkempfang einen „Detektor“, bestehend aus einem natürlichen Bleiglanzkristall (PbS) und einem feinen Bronzedraht. Mit dessen Spitze tastete man solange auf dem PbS herum, bis man eine „gute Stelle“ erwischte und Empfang bekam.

  8. 8.

    Die auf dem pn-Kontakt beruhende Halbleiterdiode wurde von William Bradford Shockley (1910–1989) in den Bell Telephone Laboratories entwickelt. Dort erfanden J. Bardeen, W. H. Brattain und Shockley auch den Transistor (1948). Bardeen (1908–1991) entwickelte später als Physik-Professor an der Illinois University mit Cooper und Schrieffer die Theorie der Supraleitung (Abschn. 9.2). Er erhielt zweimal den Nobelpreis für Physik.

  9. 9.

    Die Diodenkennlinie ist ein eindrucksvolles Beispiel zum „Gesetz des exponentiellen Wachstums“, das heutzutage auch in anderen Zusammenhängen des öfteren diskutiert wird. Auf einer kleinen Skala erfolgt ein mäßiges, geregeltes Wachstum; auf einer großen passiert zunächst fast nichts, aber dann geht es los. Es lohnt sich, über Abb. 10.18a, b ein wenig nachzudenken.

  10. 10.

    Dies gilt für hochreines Silizium, das das am Anfang von Abschn. 10.2 beschriebene Reinigungsverfahren hinter sich hat. Beim polykristallinen Si verzichtet man auf das Szochralski-Verfahren und kühlt die Si-Schmelze in einem großen Tiegel langsam ab. Das Material besteht aus zentimetergroßen Einkristallen. Die Synthese, Destillation und Reduktion des \(\mathrm{SiHCl}_{3}\)erfordert sehr kostspielige Anlagen und verbraucht viel Energie. Deshalb wird intensiv daran gearbeitet, das metallurgische Silizium solarzellentauglich zu machen, dann wären die Si-Kosten bei einer photovoltaischen Anlage vernachlässigbar.

  11. 11.

    Das \(\overline{\mathrm{B}}_{\text{s}}\)-Meson enthält ein b-Quark und ein s-Antiquark; das \(\mathrm{D}^{+}_{\text{s}}\)-Meson enthält statt des b-Quarks ein c-Quark. Informationen zu Quarks findet man in Bd. I/6.1. Beim ersten Zerfall in Abb. 10.30, \(\overline{\mathrm{B}}_{\text{s}}\rightarrow\mathrm{D}^{+}_{\text{s}}+\mathrm{e}^{-}+\overline{\nu}\), verwandelt sich also das b-Quark in ein c-Quark, beim zweiten das c-Quark in ein s-Quark. Dieses s-Quark steckt im \(\mathrm{K}^{-}\)-Meson, das s-Antiquark im \(\mathrm{K}^{+}\)-Meson. Die mittleren Lebensdauern sind \(\tau(\overline{\mathrm{B}}_{\text{s}})=1{,}62\cdot 10^{-12}\,\mathrm{s}\), \(\tau(\mathrm{D}^{+}_{\text{s}})=0{,}47\cdot 10^{-12}\,\mathrm{s}\), \(\tau(\mathrm{K})=1{,}24\cdot 10^{-8}\,\mathrm{s}\).

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Aufgaben

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10.1 Kapazitätsdiode.

Wie die Abb. 10.15 und 10.19 zeigen, sind beiderseits der Grenze eines pn-Kontaktes eine positive und eine gleich große negative Ladung gespeichert. Wird an den Kontakt eine Spannung U in Sperrrichtung angelegt, verbreitert sich die Sperrschicht. Daher ist der Bau von steuerbaren Kapazitätsdioden möglich.

Wie hängen die Sperrschichtdicken \(d_{\text{n}}\) und \(d_{\text{p}}\) mit den gespeicherten Ladungen zusammen? Wie ändert sich die anliegende Spannung mit der Sperrschichtdicke? Wie ändern sich die gespeicherten Ladungen mit der Spannung, d. h. wie groß ist die differentielle Kapazität?

10.2 Photodiode.

Wird an eine Photodiode ein Verbraucher angeschlossen, fließt ein Strom, der durch das Negative der Gl. (10.37) gegeben ist. Wie kann man diese Formel durch ein Ersatzschaltbild wiedergeben, das aus einer idealen Stromquelle und einer normalen Diode besteht? Wo bleibt der Strom \(I_{\text{Photo}}\) im Leerlauf?

Es sei \(f=I_{\text{Photo}}/I_{0}=10^{8}\). An Stelle der Spannung führen wir die dimensionslose Größe \(u=eU/k_{\text{B}}T\) ein. Welchen Wert u 0 hat u im Falle des Leerlaufs? Man berechne für einige Werte von u die von der Photodiode nach außen abgeführte Leistung in Einheiten von \(I_{\text{Photo}}U_{0}\) und suche das Maximum \(P_{\text{m}}\) (das Problem ist analytisch nicht lösbar, man kann sich von Abb. 10.25 leiten lassen). Wie groß ist dann u? Wie groß sind U und \(I_{\text{Photo}}\) für das Zahlenbeispiel \(U_{0}=k_{\text{B}}Tu_{0}/e=0{,}68\) V, \(P_{\text{m}}=4\) W? Welchen Widerstand \(R_{\text{m}}\) muss man an die Photodiode anschießen, um die optimale Leistung \(P_{\text{m}}\) abzuführen?

10.3 Transistorkennlinien.

In den Abb. 10.34b, c ist der Kollektorstrom \(I_{\text{C}}\) eines Transistors als Funktion der Kollektor-Emitterspannung \(U_{\text{CE}}\) dargestellt, wobei die eingezeichneten Kurven konstanten Basis-Emitterspannungen und konstanten Basisströmen entsprechen. Welche Beziehung besteht zwischen den Steigungen

$$\left(\frac{\partial I_{\text{C}}}{{{\mathrm{d}}}U_{\text{CE}}}\right)_{U_{\mathrm{BE=const}}}\quad\text{und}\quad\left(\frac{\partial I_{\text{C}}}{{{\mathrm{d}}}U_{\text{CE}}}\right)_{I_{\mathrm{B=const}}}\;,$$

wenn man die Parameter β und S in den Gln. (10.40), (10.42) und (10.43) als konstant ansetzt? (Es ist zweckmäßig, vollständige Differentiale des Kollektorstroms zu bilden). Entspricht das Ergebnis den Abbildungen?

10.4 Transistor als Stromquelle.

In Abb. 10.48 ist die Basisschaltung eines Transistors gezeigt. Wenn man die Spannung \(U_{\text{a}}\) variiert, aber die Spannung \(U_{\text{E}}\) konstant hält, kann sich der Strom \(I_{\text{C}}\) nur wenig ändern, wenn die Spannung

\(U_{\text{E}}\) groß gegen \(U_{\text{BE}}\) ist. Dann wirkt der Transistor als Quelle eines konstanten Gleichstroms. Die Kollektorspannung \(U_{\text{CE}}\) ändert sich um fast so viel wie die externe Spannung \(\Updelta U_{\text{a}}\), sie „geht mit“. Wie Abb. 10.49 zeigt, muss der Arbeitspunkt dann unter dem Einfluss von \(\Updelta U_{\text{a}}\) von der Kennlinie 1 zur Kennlinie 2 laufen. Schrittweise kann man den Innenwiderstand der Stromquelle berechnen:

a) Um wieviel ändert sich der Basisstrom \(I_{\text{B}}\) als Funktion von \(\Updelta U_{\text{a}}\)? Nimmt er zu oder ab, wenn \(U_{\text{a}}\) zunimmt?

b) Um wieviel ändert sich \(U_{\text{BE}}\)?

c) Um wieviel ändert sich der Emitterstrom \(I_{\text{E}}\)?

Welche Änderung \(\Updelta I_{\text{C}}\) des Kollektorstroms folgt daraus?

d) Dies widerspricht zwar der anfänglichen Annahme \(\Updelta I_{\text{C}}=0\), ist aber in erster Ordnung das korrekte Resultat, wenn das berechnete

\(\Updelta I_{\text{C}}\) klein gegen den vertikalen Abstand der Kurven 1 und 2 in Abb. 10.49 ist. Man verifiziere anhand typischer Transistordaten, dass dies der Fall ist.

Abb. 10.48
figure 48

Transistor in der Basisschaltung

Abb. 10.49
figure 49

Stabilisierter Strom und Transistorkennlinien

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Heintze, J. (2016). Halbleiter und Isolatoren. In: Bock, P. (eds) Lehrbuch zur Experimentalphysik Band 3: Elektrizität und Magnetismus. Springer Spektrum, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-48451-7_10

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