Zusammenfassung
Die Photometrie beschäftigt sich mit der Messung von Intensität und Leistung des sichtbaren Lichts unter Berücksichtigung der Empfindlichkeit des menschlichen Auges (siehe Kap. 5). Das sichtbare Licht macht nur einen kleinen Teil des gesamten elektromagnetischen Spektrums aus (siehe Abschn. 2.1.1). Es umfasst den Wellenlängenbereich von etwa 380 nm bis 780 nm. Physikalische Messungen von Intensität, Leistung etc. lassen sich natürlich unabhängig vom menschlichen Auge für das gesamte elektromagnetische Spektrum durchführen.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
[1] Edward H. Adelson und John Y. A.Wang. Single Lens Stereo with a Plenoptic Camera. IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, 14(2):99–106, Februar 1992.
[2] Helmut Budzier und Gerald Gerlach. Thermische Infrarotsensoren: Grundlagen für Anwender. Wiley-VCH,Weinheim, 2010.
[3] Rainer Dohlus. Photonik: Physikalisch-technische Grundlagen der Lichtquellen, der Optik und des Lasers. Oldenbourg, München, 2010.
[4] Marc Ebner. Color constancy. Wiley, Chichester, 2007.
[5] Ramesh Jain, Rangachar Kasturi und Brian Schunck. Machine vision. McGraw-Hill, New York, 1995.
[6] James T. Kajiya. The rendering equation. In Siggraph Computer Graphics, Bd. 20, Seiten 143–150. ACM, 1986.
[7] Herman Keitz. Lichtberechnungen und Lichtmessungen: Einführung in das System der lichttechnischen Größen und Einheiten und in die Photometrie. Philips, Eindhoven, 2. Auflage, 1967.
[8] Fred E. Nicodemus, Joseph C. Richmond, Jack J. Hsia, Irving W. Ginsberg und Thomas Limperis. Geometrical Considerations and Nomenclature for Reflectance. U.S. Department of Commerce, U.S. Government Printing Office, Washington, DC, 1977.
[9] Otto Reeb. Grundlagen der Photometrie. Braun, Karlsruhe, 1962.
[10] Michael Reisch. Halbleiter-Bauelemente. Springer, Berlin, 2005.
[11] Emanuele Trucco und Alessandro Verri. Introductory Techniques for 3-D Computer Vision. Prentice Hall, Upper Saddle River, NJ, 1998.
Author information
Authors and Affiliations
Corresponding author
Rights and permissions
Copyright information
© 2016 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Beyerer, J., Puente León, F., Frese, C. (2016). Radiometrie. In: Automatische Sichtprüfung. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-47786-1_4
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-47786-1_4
Published:
Publisher Name: Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-662-47785-4
Online ISBN: 978-3-662-47786-1
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)