Zusammenfassung
In der Vergangenheit sind verschiedene Konzepte zur direkten, in erster Linie quantitativen Messung des Standes der Technik mit Hilfe von Technikindikatoren entwickelt worden. Die unterschiedlichen Methoden sind jedoch zumeist auf die verfolgte Zielsetzung und/oder spezielle Technikbereiche zugeschnitten, sodaß sie nur einen beschränkten Anwendungsbereich besitzen. Bei allen Konzepten bereitet insbesondere die Beschaffung der Informationen bzw. Daten Probleme, da einheitliche und damit vergleichbare Technikstatistiken in der Regel nicht existieren und viele Daten aus Vertraulichkeitsgründen nicht preisgegeben werden.
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© 1993 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Gronau, M., Hafkesbrink, J., Krause, M., Mokwa, W., Rospert, M. (1993). Technometrie der Mikrosystemtechnik. In: Gronau, M., Hafkesbrink, J., Krause, M., Mokwa, W., Rospert, M. (eds) Technologien für Mikrosysteme. VDI-Buch. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-30512-6_2
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-30512-6_2
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-62228-4
Online ISBN: 978-3-662-30512-6
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