Résumé

Le document fondamental pour l’étude de l’analyse quantitative par émission X excitée par une sonde électronique demeure toujours la thèse de Castaing W. En effet le traitement original que Castaing présentait en 1952 constitue la base de tous les développements ultérieurs. De ceux-ci, qui se sont multipliés depuis quelques années, on a parfois tenté de dresser des arbres généalogiques, pour les classer en vue de mieux discuter leur validité [2, 3]. On peut s’interroger sur l’origine de tous ces traitements et sur les raisons qui ont provoqué la publication, parfois confidentielle! d’un tel nombre de méthodes de calculs.

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Bibliographie

  1. 1.
    Castaing, R.: Thèse — Publication Onera No 55 (1952).Google Scholar
  2. 2.
    Duncumb, P., and P. K. Shields: Brit. J. Appl. Phys. 14, 617 (1963).ADSCrossRefGoogle Scholar
  3. 3.
    Poole, D. M.: N B S Seminar, Washington 1967.Google Scholar
  4. 4.
    Poole, D. M., and P. M. Thomas: J. Inst. Metals 90, 228 (1961–62).Google Scholar
  5. 5.
    Philibert, J.: Metaux Corrosion 40 (1964), Publication Irsid No B51. — J. Microscopie 6, 889 (1967).Google Scholar
  6. 6.
    Thomas, P. M., and D. M. Poole: The electron microprobe, p. 269. New York: John Wiley & Sons 1966.Google Scholar
  7. 7.
    Duncumb, P., and S. J. B. Reed: Nbs Seminar, Washington 1967.Google Scholar
  8. 8.
    Bishop, H. E.: Brit. J. Appl. Phys. Sér. 2, 1, 673 (1968).Google Scholar
  9. 9.
    Bishop, H. E.: Brit. J. Appl. Phys. 18, 703 (1967).ADSCrossRefGoogle Scholar
  10. 10.
    Derian, J. C., et R. Castaing: Optique des rayons X et microanalyse, p. 193. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  11. 11.
    Derian, J. C., et R. Castaing: Thèse, Rapport Cea 1966, R 3052.Google Scholar
  12. 12.
    Cosslett, V. E.: Optique des rayons X et micro analyse, p. 85. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  13. 13.
    Cosslett, V. E., and R. N. Thomas: Brit. J. Appl. Phys. 15, 235, 883, 1283 (1964)ADSCrossRefGoogle Scholar
  14. Cosslett, V. E., and R. N. Thomas: Brit. J. Appl. Phys. 16, 779 (1965).ADSCrossRefGoogle Scholar
  15. 14.
    Archard, G. D., and T. Mulvey: X ray optics and microanalysis, p. 393. Stanford: Academic Press 1963.Google Scholar
  16. 15.
    Green, M.: Proc. Phys. Soc. (London) 82, 204 (1963).ADSCrossRefGoogle Scholar
  17. 16.
    Shinoda, G.: Optique des rayons X et microanalyse, p. 97. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  18. Shimizu, R., K. Murata, and G. Shinoda: Optique des rayons X et microanalyse, p. 127. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  19. 17.
    Brown, D. B., and R. E. Ogilvie: J. Appl. Phys. 37, 4429 (1966). - Optique des rayons X et microanalyse, p. 139. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  20. 18.
    Philibert, J.: X ray optics and microanalysis, p. 379. Stanford: Academic Press 1963.Google Scholar
  21. 19.
    Nelms, A. T.: Nbs Circular No 577 (1956) et supplément (1958).Google Scholar
  22. 20.
    Philibert, J., and R. Tinier: Brit. J. Appl. Phys., Sér. 2, 1, 685 (1968).Google Scholar
  23. 21.
    Duncumb, P., et K. DA Casa: communication particulière 1967.Google Scholar
  24. 22.
    Duncumb, P., and P. K. Shields: The electron microprobe, p. 284. New York: John Wiley & Sons 1966.Google Scholar
  25. 23.
    Adler, I., et J. Goldstein: Optique des rayons X et microanalyse, p. 210. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  26. 24.
    Heinrich, K. F. J.: Second conf. electron microprobe analysis, Boston 1967.Google Scholar
  27. 25.
    Belk, J. A.: Optique des rayons X et microanalyse, p. 214. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  28. 26.
    Ziebold, T. O., and R. E. Ogilvie: Ann. Chem. 35, 621 (1963)CrossRefGoogle Scholar
  29. Ziebold, T. O., and R. E. Ogilvie: Ann. Chem. 36, 322 (1964).CrossRefGoogle Scholar
  30. 27.
    Tong, M.: Non publié.Google Scholar
  31. 28.
    Theisen, R.: Rapport Euratom (1961), I-1.Google Scholar
  32. 29.
    Quantitative Electron Probe Microanalysis. Berlin-Heidelberg-New York: Springer 1965.Google Scholar
  33. 30.
    Rouberol, J. M., M. Tong, and C. Conty: Rev. Gams No. 4, 334 (1966).Google Scholar
  34. 31.
    Wittry, D.: Thèse Cal. Tech. Pasadena 1967.Google Scholar
  35. 32.
    Duncumb, P., and P. K. Shields: X ray optics and microanalysis, p. 329. Stanford: Academic Press 1963.Google Scholar
  36. 33.
    Reed, S. J. B.: Brit. J. Appl. Phys. 16, 913 (1965).ADSCrossRefGoogle Scholar
  37. 34.
    Wittry, D.: Advances X ray analysis. Plenum Press 7, 395 (1964).Google Scholar
  38. 35.
    Colby, J. W., et D. K. Conley: Optique des rayons X et microanalyse, p. 263. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  39. 36.
    Henoc, J.: Rapport Cnet, Paris 1962, Pcm 655.Google Scholar
  40. 37.
    Maurice, F., R. Seguin et J. Henoc: Optique des rayons X et microanalyse, p. 357. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  41. 38.
    Reed, S. J. B., and P. K. Mason: Second Conf. Electron Microprobe Analysis, Boston 1967.Google Scholar
  42. 39.
    Heinrich, K. F. J.: N.B.S. Seminar 1967.Google Scholar
  43. 40.
    Einrich, K. F. J.: The electron microprobe, p. 296. New York: John Wiley & Sons 1966.Google Scholar
  44. 41.
    Theisen, R., and D. Vollath: Table of X-ray mass attenuation coefficients. Düsseldorf: Stahleisen 1967.Google Scholar
  45. 42.
    Frazer, J. Z.: A computer fit to mass absorption coefficient data. University of California 1967, Sio Ref. No. 67–29.Google Scholar
  46. 43.
    Duncumb, P., et D. Melford: Optique des rayons X et microanalyse, p. 240. Paris: Hermann 1966.Google Scholar
  47. 44.
    Henoc, J., et F. Maurice: Communication à ce congrès 1968.Google Scholar
  48. 45.
    Sweatman, T. R., et J. V. P. Long: Communication à ce congrès 1968.Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1969

Authors and Affiliations

  • J. Philibert
    • 1
  1. 1.IRSIDSaint-Germain-en-LayeFrance

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