Zusammenfassung
Beobachten von Interferenzerscheinungen an dünnen Schichten als Anwendung des Wellenmodells des Lichtes. Bestimmung des Krümmungsradius einer plankonvexen Linse. Wellenlängenmessung mit Newtonschen Ringen. Herstellung und Charakterisierung einer Entspiegelungsschicht und eines dielektrischen Spiegels. Transmissionsmessungen mit einem Spektralphotometer.
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Eichler, H.J., Kronfeldt, HD., Sahm, J. (2001). Interferenz an dünnen Schichten. In: Das Neue Physikalische Grundpraktikum. Springer-Lehrbuch. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-21753-5_39
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