Zusammenfassung
Sei L δ(·) bzw. N δ(·) die OC bzw. ASN eines zweifachen Attributprüfplans δ sowie F p0(δ) die Fläche unter N δ(·) über dem Intervall [0, p 0] (0 < p 0 ≤ 1). Zu gegebenen Parametern p 1 (AQL), p 2 (LTPD) und α, ß (Fehlerniveaus) berechnen wir den Plan δ F (p 0 ), für den L δF (p 0)(p l) ≥ 1−α, L δF (p 0)(p 2) ≤ β und F p 0(δ F (p 0)) = min δ F p 0 (δ) gilt. Wir untersuchen die Abhängigkeit dieser Pläne von p0 und vergleichen diese Pläne mit dem entsprechenden ASN-Plan (Minimaxplan).
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Literatur
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Krumbholz, W., Lassahn, R., Ševčíková, H. (1999). Zweifache attributive ASN-Flächen-Prüfpläne. In: Gaul, W., Schader, M. (eds) Mathematische Methoden der Wirtschaftswissenschaften. Physica, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-12433-8_17
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