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Microanalyse d’une surface solide par iono-luminescence

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Book cover Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse

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Résumé

La surface d’un corps conducteur ou d’un isolant, bombardée par un faisceau d’ions positifs, émet des atomes neutres à l’état excité [1, 2]. La désexcitation de ces particules entraine une émission de lumière dont le spectre optique est équivalent au spectre d’arc de ces atomes pulvérisés. Il est donc possible de réaliser une analyse optique de la surface d’un échantillon en isolant une longueur d’onde correspondant à une raie d’émission d’un élément de la cible.

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Bibliographie

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  3. Gabbay, M., R. Goutte, C. Guillaud et C. Monllor: Compt. Rend. 261, 3325 (1965).

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Authors and Affiliations

  1. Lab. de Phys. des Solides, Dépt. de Phys., I.N.S.A., Villeurbanne, France

    J. P. Meriaux, R. et Goutte & C. Guillaud

Authors
  1. J. P. Meriaux
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  2. R. et Goutte
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  3. C. Guillaud
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Editors and Affiliations

  1. Institut für angewandte Physik, Universität, 74 Tübingen, Germany

    G. Möllenstedt  & K. H. Gaukler  & 

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© 1969 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Meriaux, J.P., et Goutte, R., Guillaud, C. (1969). Microanalyse d’une surface solide par iono-luminescence. In: Möllenstedt, G., Gaukler, K.H. (eds) Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-12108-5_51

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-12108-5_51

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-662-12110-8

  • Online ISBN: 978-3-662-12108-5

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