Skip to main content

Part of the book series: Arbeiten zur Angewandten Statistik ((ARBEITEN ANGEW.,volume 33))

  • 35 Accesses

Zusammenfassung

Es sei im folgenden NL = 2000 und pr = 1.8* 0.65% = 1.17%.Für die Prozeßkurve wS(p) mit EquationSource% MathType!MTEF!2!1!+- % feaagCart1ev2aqatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbWexLMBbXgBd9gzLbvyNv2CaeHbl7mZLdGeaGqiVu0Je9sqqr % pepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs % 0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-xfr-xb9adbaqaaeGaciGaai % aabeqaamaabaabauaakeaaceWGqbGbaebadaWgaaWcbaGaam4uaaqa % baGccqGH9aqpcaaIWaGaaiOlaiaaisdacaGGLaaaaa!44F4!</EquationSource><EquationSource Format="TEX"><![CDATA[$${\bar P_S} = 0.4\%$$ und σS = 0.6% ist der Prüfplan [50,1] bayesoptimal. 91% aller angelieferten Lose haben einen Defektamteil unterhalb der Trennungsqualiät. Zum Zeitpunkt T = 80 trete ein Qualitäts- einbruch auf. Für die Lose Nr. 81 bis 160 gelte eine Prozeßkurve wA(p) mit EquationSource% MathType!MTEF!2!1!+- % feaagCart1ev2aqatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbWexLMBbXgBd9gzLbvyNv2CaeHbl7mZLdGeaGqiVu0Je9sqqr % pepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs % 0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-xfr-xb9adbaqaaeGaciGaai % aabeqaamaabaabauaakeaaceWGqbGbaebadaWgaaWcbaGaamyqaaqa % baGccqGH9aqpcaaIXaGaaiOlaiaaiAdacaGGLaaaaa!44E5!</EquationSource><EquationSource Format="TEX"><![CDATA[$${\bar P_A} = 1.6\%$$ und σA = 0.6%. Unter dieser Prozeßkurve werden nur noch 25% aller Lose mit einem Defektanteil unterhalb der Trennqualität produziert.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 44.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 59.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1990 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

About this chapter

Cite this chapter

Rendtel, U., Lenz, HJ. (1990). Bestimmung der freien Parameter der Stichprobensysteme. In: Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung. Arbeiten zur Angewandten Statistik, vol 33. Physica, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-11027-0_9

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-11027-0_9

  • Publisher Name: Physica, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-7908-0468-3

  • Online ISBN: 978-3-662-11027-0

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics