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Die Ermittlung von Rasterkoordinaten und deren Genauigkeit

  • Conference paper
Mustererkennung 1988

Part of the book series: Informatik-Fachberichte ((INFORMATIK,volume 180))

Zusammenfassung

Zur Messung der Verformungen bzw. der Kontur von technischen Bauteilen setzt man zunehmend optische Ganzfeldverfahren ein, da diese eine flächenhafte Information berührungsfrei in einem größeren Bereich der betrachteten Oberfläche liefern. Für sehr kleine Verformungen verwendet man holografische oder interferometrische Verfahren, während man größere Verformungen und Konturen bevorzugt mit Rastermethoden bestimmt. Hierzu bringt man auf die Oberfläche des Objekts einen festen oder projizierten Raster auf, nimmt den Raster in verschiedenen Verformungsstufen oder aus verschiedenen Richtungen auf und ermittelt anschließend die Rasterkoordinaten im Negativ. Mit nachverarbeitenden Programmen lassen sich daraus die gesuchten physikalischen Größen berechnen.

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© 1988 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Andresen, K., Morche, B. (1988). Die Ermittlung von Rasterkoordinaten und deren Genauigkeit. In: Bunke, H., Kübler, O., Stucki, P. (eds) Mustererkennung 1988. Informatik-Fachberichte, vol 180. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-08895-1_38

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-08895-1_38

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-50280-7

  • Online ISBN: 978-3-662-08895-1

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