Bestimmung einer absoluten Verformungskomponente eines belasteten Bauteils aus zwei Interferenzmustern, die bei unterschiedlichen Belastungen aufgenommen wurden

Zusammenfassung

Soll eine Verformung eines Bauteils holografisch erfaßt werden, so treten bei der quantitativen Auswertung der Interferenzmuster unter anderem folgende Problemstellungen auf:

• Die Standard-Auswerteverfahren [1, 2] liefern allesamt eine Berechnung des relativen Phasenverlaufs aus den Interferenzstreifen. Zusammen mit dem Empfindlichkeitsvektor, der durch die Geometrie des holografischen Aufbaus gegeben ist, erhält man eine relative Verformungskomponenten des Bauteil unter der anliegenden Last. Um den vollständigen Verformungsvektor des Bauteils bestimmen zu können, werden drei Aufnahmen aus linear unabhängigen Richtungen benötigt, die zudem noch die absolute Verformungskomponenten liefern müssen.

• Bei der Verwendung des holografischen Real-Time-Verfahren ist einerseits eine genaue Repositionierung der Hologrammplatte nach dem photochemischen Prozeß nicht möglich. Andererseits kann es zwischenzeitlich durch thermische Ausdehnungen zu Weglängenänderungen im optischen Aufbau gekommen sein. Diese Effekte führen zu einem Interferenzstreifen-Grundmuster, obwohl noch keine Belastung stattgefunden hat.