Zusammenfassung
Bei den Halbleiterspeichern unterscheidet man zwei Hauptgruppen: die Schreib-Lese-Speicher und die Festwertspeicher. Abb. 11.1 zeigt eine Übersicht über die gebräuchlichsten Speichertechniken.
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Literatur
Johnson, W.S.; Renninger, A.L.; Perlegos, G.: 16k-EEPROM Relies on Tunneling for Byte-Erasable Program Storage. Electronics 53 (1980) H. 5, S. 113–117
Landers, G.: 5-Volt-Only EEPROM Mimics Static-RAM Timing. Electronics 55 (1982) H.13, S. 127–130.
Shelton, E.K.: Low-Power EEPROM can be Programmed Fast. Electronics 53 (1980) H. 17, S. 89–92.
Gupta, A.; Chiu, T.; Yound, S.: 5V-only EEPROM-Springboard for Autoprogrammable Systems. Electronics 55 (1982) H. 3, S. 121–125.
Rappaport, A.: Field-Programmable Logic Arrays Bridge the Standard-IC/Gate-Array Gap. EDN 28 (1983) H. 1, S. 59–74.
Bernstein, H.: Schreib-Lese-Speicher. Elektronikpraxis 16 (1981) H. l, S. 10–21.
Iversen, W.R.: Dual-Port RAM Transfers Data More Efficiently. Electronics 55 (1982) H. 20, S. 47–48.
Evans, M.: Nelson-Matrix Can Pin Down 2 Errors per Word. Electronics 55 (1982) H. II, S. 158–162.
Peterson, W.W.; Weldon, E.J.: Error-Correction Codes. Cambridge, Mass.: The MIT-Press 1972.
Berlekamp, E.R.: Algebraic Coding Theory. New York: McGraw-Hill 1968.
Toschi, E.A.; Watanabe, T.: An All-Semiconductor Memory with Fault Detection, Correction, and Logging. Hewlett-Packard-Journal 27 (1976) H. 12, S. 8–13.
Twaddell, W.: Error-Checking and -Correcting ICs See Wider Use as Memory Size Grows. EDN 26 (1981) H. 5, S. 31–40.
Seitzer, D.: Arbeitsspeicher für Digitalrechner. Berlin, Heidelberg, New York: Springer 1975.
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Tietze, U., Schenk, C. (1983). Halbleiterspeicher. In: Halbleiter-Schaltungstechnik. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-07645-3_11
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