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EMV — Suszeptibilitätsmeßtechnik

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Elektromagnetische Verträglichkeit
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Zusammenfassung

Suszeptibilitäts- bzw. Störfestigkeitsmessungen dienen der Ermittlung der Widerstandsfähigkeit elektronischer Geräte gegen die an ihrem Einsatzort zu erwartenden Störgrößen. Letztere kennt man entweder aus Betriebserfahrungen der Vergangenheit oder auf Grund speziell durchgeführter Emissionsmessungen am Einsatzort (s.a. Kapitel 2). Die Störpegel unterschiedlicher Umgebungen lassen sich grob verschiedenen Umgebungsklassen zuordnen, die ihrerseits eine bestimmte Prüfschärfe (engl.: test severity) nahelegen [8.1 – 8.31. Eine bestandene Störfestigkeitsprüfung mit repräsentativen Störgrößen garantiert nicht, daß ein Gerät absolut störfest ist (z.B. auch im Extremfall eines direkten Blitzeinschlags). Sie erlaubt jedoch in vielen Fällen die Schlußfolgerung, daß das Gerät mit einer Wahrscheinlichkeit verfügbar sein wird, die komplementär ist zur Wahrscheinlichkeit des Auftretens beliebiger Störgrößen, die oberhalb der beim Test als repräsentativ eingestuften Prüfspannungen und -ströme bzw. der zugehörigen Felder liegen. Während für Emissionsmessungen bezüglich Durchführung und einzuhaltender Funkstörgrenzwerte seit langem umfangreiche und genaue Vorschriften zur Verfügung stehen, werden Suszeptibilitätsmessungen häufig nach internen Hersteller-oder Anwenderrichtlinien durchgeführt, was naturgemäß unterschiedlichen Bewertungen Raum läßt. Wesentlich ist, daß Hersteller und Anwender sich rechtzeitig auf die gleichen repräsentativen Störgrößen, insbesondere auch über den Innenwiderstand der sie erzeugenden Testgeneratoren einigen (falls diese nicht bereits durch Normen vorgegeben sind). Entspricht ein Gerät bezüglich seiner Störfestigkeit in Normen festgelegten Beanspruchungen und fällt das Gerät beim Anwender trotzdem aus, obliegt es dem Anwender, seinen Störpegel durch separate Maßnahmen unter den Pegel der Prüfstörgrößen abzusenken. Wegen der sehr unterschiedlichen Anforderungen an die Störfestigkeit von Automatisierungssystemen, KFZ-Elektronik etc. kann das vorliegende Kapitel verständlicher-weise nur die essentiellen elektrotechnischen Grundlagen der verwendeten Verfahren und Geräte behandeln. Im konkreten Einzelfall sind die jeweils geltenden Vorschriften zu Rate zu ziehen (soweit existent).

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  1. PELZ, L.: Anforderungen an die Störfestigkeit von Automatisierungseinrichtungen in der chemischen Industrie. Automatisierungstechnische Praxis atp (1989) S. 174 bis 181 und S. 217 bis 219.

    Google Scholar 

  2. VDE 0843: EMV von MO-, Steuer-und Regeleinrichtungen in der industriellen Prozeßtechnik, Teil 2. Störfestigkeit gegen die Entladung statischer Elektrizität. VDE-Verlag, Berlin 1987.

    Google Scholar 

  3. PELZ, L.: EMV in der Prozeßleittechnik. Automatisierungstechnische Praxis atp (1988) S. 80 bis 83.

    Google Scholar 

  4. VDE 0847: Beurteilung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen. VDE-Verlag, Berlin (1986) Entwurf.

    Google Scholar 

  5. IEC 801–5: Industrial Process Measurement and Control Part 5, Surge Voltage Immunity requirements. Bureau of IEC, Genf 198

    Google Scholar 

  6. IEC 60–2: High Voltage Test Techniques, Part 2 - Test Procedures. Bureau of IEC, Genf (1973).

    Google Scholar 

  7. IEC 469–1: Pulse Techniques and Apparatus, Part 1. Bureau of IEC, Genf 1974.

    Google Scholar 

  8. HELMCHEN, G. u. O. EizßL: Berechnung der Elemente des Stoßspannungskreises für die Stoßspannungen 1.2/50, 1.2/5 und 1.2/200. etzA (1964) S. 578 bis 582.

    Google Scholar 

  9. WOLF, J.: Ein einfaches Verfahren zur Berechnung der Stirnzeit von Blitzimpulsspannungen. Elektrie (1983) S. 200 bis 202.

    Google Scholar 

  10. SCHWAB, A. u. F. IMO: Berechnung von Stoßstromkreisen für Exponentialströme. Bull. ASE (1977) S. 1310 bis 1313.

    Google Scholar 

  11. ROBRA, J.: Ein Programm zur Berechnung der Elemente des Stoßkreises für beliebige Stoß-und Schaltspannungen. Bull. ASE (1972) S. 274 bis 277.

    Google Scholar 

  12. CREED, F.C. u. M.M.C. COLLINS: Shaping Circuits For High-Voltage-Pulses. IEEE Trans. PAS (1971) S. 2239 bis 2246.

    Google Scholar 

  13. Very Short Tailed Lightning Double Exponential Wave Generation Techniques Based on Marx Circuit Standard Configurations. IEEE Trans. PAS (1984) S. 782 bis 786.

    Google Scholar 

  14. WIESINGER, J.: Hybrid Generator für die Isolationskoordination. etz (1983) S. 1102 bis 1105.

    Google Scholar 

  15. CISPR Measurement of the immunity of sound and television broadcast receivers and assocaited equipment in the frequency range 1,5 MHz to 30 MHz by the current-injection method. Publ. 20 (1985).

    Google Scholar 

  16. BERSIER, RB.: Rationale and new experimental evidence on the adequacy of conducted instead of radiated susceptibility tests. 5th Symp. on EMC Zürich (1983) S. 257 bis 262.

    Google Scholar 

  17. SHEU, H.M., RW. KING et al.: The Exciting Mechanism of the Parallel-Plate EMP Simulator. IEEE Trans. EMC (1987) S. 32 bis 39.

    Google Scholar 

  18. BARDET, C. et al.: Time Domain Analysis of a Large EMP Simutor. IEEE Trans. EMC (1987) S. 40 bis 4

    Google Scholar 

  19. CRAWFORD, M.L.: Generation of Standard EM-Fields Using TEM Transmission Cells. IEEE Trans. EMC (1974) S. 189 bis 195.

    Google Scholar 

  20. POLLARD, N.: A Broadband Electomagnetic Environments Simulator. IEEE Int. Symp. EMC Seattle (1977) S. 73 bis 77.

    Google Scholar 

  21. KÖNIGSTEIN, D. u. D. HANSEN: A New Family of TEM-Cells with Enlarged Bandwidth and Optimized Working Volume. Int. Symp. EMC Zürich (1987) S. 127 bis 132.

    Google Scholar 

  22. WILSON, P.F. u. M.T. MA: Simple Approximate Expressions for Higher Order Mode Cutoff and Resonant Frequencies in TEM Cells. IEEE Trans. EMC (1986) S. 125 bis 130.

    Google Scholar 

  23. CRAWFORD, M.L. et al.: Expanding the Bandwidth of TEM-Cells for EMC-Measurements. IEEE Trans. EMC (1978) S. 368 bis 375.

    Google Scholar 

  24. SMITH, I. u. H. ASLIN: Pulsed Power for EMP Simulators. IEEE Trans. on Antennas a. Propagation (1978) S. 53 bis 59.

    Google Scholar 

  25. FESER, K.: Migus-EMP Simulator für die Überprüfung der EMV. etz (1987) S. 420 bis 423.

    Google Scholar 

  26. TEHORI, A.: EMP Inductive Injection System. EMC Symp. Zürich (1989) Symp. Rec. S. 233 bis 236.

    Google Scholar 

  27. EUMURIAN, G. et al.: A 320 kW arbitrary waveform injection System. EMC Symp. Zürich (1989) S. 377 bis 382.

    Google Scholar 

  28. CROUCH, K.E.: Recent Lightning Induced Voltage Test Techniques Investigation. 8th Int. Aerospace and Ground Conf. on Lightning (1983), Nat. Techn. Inf. Serv. Springfield, Va. USA.

    Google Scholar 

  29. VDE 0160: Ausrüstung von Starkstromanlagen mit elektronischen Betriebsmitteln. VDE-Verlag, Berlin 198

    Google Scholar 

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Schwab, A.J. (1991). EMV — Suszeptibilitätsmeßtechnik. In: Elektromagnetische Verträglichkeit. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-06982-0_8

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-06982-0_8

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