Zusammenfassung
Bekanntlich besitzt das Elektronenmikroskop infolge der kleinen Aperturen seiner Linsen verglichen mit dem Lichtmikroskop eine sehr große Schärfentiefe. Dieser für viele Untersuchungen gar nicht hoch genug einzuschätzende Vorteil birgt allerdings eine große Gefahr in sich: Tiefenunterschiede können im normalen elektronenmikroskopischen Bild oft nicht erkannt oder in ihrer Größe nicht abgeschätzt werden. Bereits Helmcke (1) hat darauf hingewiesen, daß aus diesem Grunde bei Längenmessungen auf elektronenmikroskopischen Bildern unter Umständen große Fehler begangen werden können, da nur die Projektion räumlich ausgedehnter Objekte auf die Bildebene gemessen wird.
This is a preview of subscription content, log in via an institution.
Buying options
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Learn about institutional subscriptionsPreview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
Helmcke, J. G.: Optik 11, 201 (1954).
Seeliger, R.: Metalloberfläche 3, (A), 181 (1949).
Helmecke, J. G., u. W. KRIEGER: Z. wiss. Mikrosk. 61, 83 (1952/53).
Helmecke u. H. J. Orthmann: Optik 11, 562 (1954).
Bandel, W.: Melliand Textilber. Heidelberg 39, 800 (1958).
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Rights and permissions
Copyright information
© 1960 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this chapter
Cite this chapter
Grothe, H., Knobling, E., Schimmel, G. (1960). Präparative Hilfsmittel zur quantitativen Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen. In: Bargmann, W., Möllenstedt, G., Niehrs, H., Peters, D., Ruska, E., Wolpers, C. (eds) Verhandlungen. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_47
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-01991-7_47
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-662-01696-1
Online ISBN: 978-3-662-01991-7
eBook Packages: Springer Book Archive